电光采样技术在超快脉冲波形测量中的应用

"这篇论文是关于超快脉冲波形参数测量的研究，主要涉及电光采样技术和电光调制器的应用。研究人员构建了一个基于电光采样的测量系统，用以应对当前NTN技术基准在超高速电脉冲波形测量上的局限。他们设计并制作了高频电光调制器，其3 dB频率响应高达100 GHz。通过对70 GHz高速光电探测器输出的电脉冲波形进行精密测量，获得了4.6 ps的上升时间和5.0 ps的半峰全宽，这些结果对建立和提升我国电光采样技术的脉冲波形参数国家基准具有重要意义。" 本文主要讨论了超高速电脉冲波形测量领域的最新进展，尤其是电光采样技术在该领域的应用。传统的NTN（Non-Linear Transformer Network）技术在面对当今高速电信号的测量需求时显得力不从心，因此研究团队构建了一种新的测量系统，该系统采用了电光采样技术，以提高测量精度和速度。电光采样是一种利用光的非线性效应来探测电信号的技术，它能够实现高速、高分辨率的波形测量。 在这个系统中，关键组件之一是自主研发的钽酸锂基共面波导结构高频电光调制器。这种调制器具有优异的频率响应性能，其3 dB带宽达到了100 GHz，这使得系统能够处理极高频率的电信号。高速光电探测器被用来生成待测的电脉冲波形，随后这些波形在优化后的系统中进行详细分析和参数优化。 通过系统的精细调整和优化，研究人员成功地对70 GHz高速光电探测器产生的电脉冲波形进行了精确测量。测量结果显示，波形的上升时间为4.6 ps，半峰全宽为5.0 ps。这些精确的测量数据不仅验证了新系统的有效性，也为未来建立更先进的电光采样技术脉冲波形参数国家基准提供了重要的参考依据。 此外，这项工作还突显了计量科学在信息技术和电子测量领域的重要性。随着超高速电子设备的发展，对脉冲波形参数的准确测量和校准变得越来越关键。电光采样技术的引入，以及相关组件如电光调制器的优化，都是推动这一领域进步的关键因素。这些研究成果对于提升我国在高速电子测量技术方面的国际竞争力具有重大意义。