MRI驱动的脑皮质厚度快速无模型估计方法

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"使用MRI进行脑皮层厚度估计的快速、模型独立的方法" 本文介绍了一种利用磁共振成像(MRI)快速且不依赖模型的方法来估计人脑的脑皮层厚度。作者包括M.L.J. Scott、P.A. Bromiley、N.A. Thacker、C.E. Hutchinson和A. Jackson,他们来自曼彻斯特大学癌症与成像科学学院的影像科学与生物医学工程分部。 在研究领域,已经有许多方法被提出用于从MRI体积图像中测量脑皮层的厚度,大多数这些方法依赖于对内皮质表面和外皮质表面的可变形模型拟合。然而,模型拟合过程中为了保持球形拓扑结构以及在狭窄的脑沟中适应外皮质表面,所施加的约束可能会在某些情况下引入偏差,并显著增加处理时间。 论文中,作者提出了一种替代方法,这种方法可能避免了上述问题。传统方法在狭小的脑沟区域,由于部分容积效应,脑脊液(CSF)通道可能被遮挡,导致皮层厚度测量的不准确。新方法的目标是减少这种误差并提高计算效率。 脑皮层厚度的精确测量对于理解和研究各种神经退行性疾病(如阿尔茨海默病)和精神障碍(如自闭症)具有重要意义。通过更准确地估计皮层厚度,研究人员可以更深入地探究大脑结构与功能之间的关系,以及这些疾病如何影响大脑的微观结构。 该方法的创新之处在于它的独立性,即不依赖于特定的模型拟合技术,这可能使其更具适应性和准确性。此外,减少处理器时间的需求对于大规模的脑成像研究来说是一个显著的优点,因为它允许更快地处理大量数据。 "使用MRI进行脑皮层厚度估计的快速、模型独立的方法"为神经科学家提供了一个强大的工具,用于更准确、更高效地评估大脑皮层的结构变化,这将有助于推进神经科学和临床医学的研究。关键词包括:MRI、大脑、皮层厚度、灰质。该论文经过了多次修改,并于2008年10月22日被接受,同年11月6日在线发布。