基于光学干涉理论的超分辨太赫兹波频谱仪系统

超分辨太赫兹波频谱仪系统 在本系统中，我们提出了一种基于光学干涉理论的超分辨太赫兹波频谱仪系统。该系统采用自主研制的宽带氮化镓阵列探测器，用于信号的多点同时探测。所提出的太赫兹波频谱仪具有较高的精度，能够实现超分辨。 干涉系统采用的是自主研制的宽带氮化镓阵列探测器，该探测器可以同时探测多个点的信号，从而提高了频谱仪的精度。同时，所提出的太赫兹波频谱仪系统还可以用于测定待测光源的光束质量。 在系统验证中，我们使用倍频链发射源产生的470~720 GHz连续太赫兹波对频谱仪进行验证。在75 mm探测距离下，频谱仪的频谱分辨率为100 MHz，测量精度为0.1%，该精度是相同探测距离下分辨极限及精度的20倍。 此外，本系统还具有以下几个优点： 1. 高精度：所提出的太赫兹波频谱仪系统具有较高的精度，能够实现超分辨。 2. 高灵敏度：自主研制的宽带氮化镓阵列探测器可以同时探测多个点的信号，从而提高了频谱仪的灵敏度。 3. 广泛应用：本系统可以用于测定待测光源的光束质量，具有广泛的应用前景。 本系统具有较高的精度和灵敏度，能够实现超分辨，广泛应用于测定待测光源的光束质量等领域。 技术特点： 1. 基于光学干涉理论的超分辨太赫兹波频谱仪系统。 2. 采用自主研制的宽带氮化镓阵列探测器，实现多点同时探测。 3. 高精度和高灵敏度，能够实现超分辨。 4. 广泛应用于测定待测光源的光束质量等领域。 应用前景： 1. 测定待测光源的光束质量。 2. 太赫兹波频谱仪的开发和应用。 3. 光电测试仪器及技术的发展和应用。 本系统具有较高的精度和灵敏度，能够实现超分辨，广泛应用于测定待测光源的光束质量等领域。