CCD与CMOS图像传感器详解：工作原理与应用技术

《外部光电效应与内部光电效应 - 预积分总结与公式推导20180827》是一本由日本作者米本和也撰写的关于CCD和CMOS图像传感器的基础与应用书籍。该书针对工业技术领域，特别是传感器方面的专业技术人员，如工程技术人员、研发和设计人员，以及大专院校相关专业的师生，提供了深入浅出的讲解。 书中首先介绍了外部光电效应和内部光电效应的基本概念，这两者是半导体物理学中的重要现象，尤其是在电子学和光电子学中。外部光电效应指的是当光子撞击金属表面时，如果其能量大于材料的逸出功（即禁带宽度Eg），电子会被激发出来，形成电流。而内部光电效应则发生在半导体材料中，当光子被吸收后，通过激发价带内的电子跃迁到导带，同样导致电流产生，这是CCD和CMOS工作的基本原理。 CCD（Charge-Coupled Device，电荷耦合器件）和CMOS（Complementary Metal-Oxide-Semiconductor，互补金属氧化物半导体）是两种常见的图像传感器，它们各自有其独特的构造和工作方式。CCD通常以逐行扫描的方式存储和传输图像信号，而CMOS则是并行处理多个像素，使得它在能耗和成本上更具优势。书中详细讲解了这两种传感器的构造特点、工作特性和应用技术，包括它们在数字照相机、数字摄像机、手机、个人计算机及PDA等设备中的广泛应用。 随着片上系统（Integrated Circuit System-on-Chip，SoC）的发展，CMOS图像传感器的潜力得到了进一步挖掘，因为它能够集成更多的功能于单个芯片上，提高了效率和灵活性。书中的内容不仅涵盖了这些技术的详细介绍，还探讨了未来的发展趋势和可能的应用领域。 《外部光电效应与内部光电效应》是一本实用的指南，帮助读者理解并掌握CCD和CMOS图像传感器的工作原理，以及它们如何推动现代信息技术的进步。无论是理论研究还是实际应用，这本书都能提供有价值的信息和深入的见解。