CCD与CMOS图像传感器详解:工作原理与应用技术
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更新于2024-08-05
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《外部光电效应与内部光电效应 - 预积分总结与公式推导20180827》是一本由日本作者米本和也撰写的关于CCD和CMOS图像传感器的基础与应用书籍。该书针对工业技术领域,特别是传感器方面的专业技术人员,如工程技术人员、研发和设计人员,以及大专院校相关专业的师生,提供了深入浅出的讲解。
书中首先介绍了外部光电效应和内部光电效应的基本概念,这两者是半导体物理学中的重要现象,尤其是在电子学和光电子学中。外部光电效应指的是当光子撞击金属表面时,如果其能量大于材料的逸出功(即禁带宽度Eg),电子会被激发出来,形成电流。而内部光电效应则发生在半导体材料中,当光子被吸收后,通过激发价带内的电子跃迁到导带,同样导致电流产生,这是CCD和CMOS工作的基本原理。
CCD(Charge-Coupled Device,电荷耦合器件)和CMOS(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor,互补金属氧化物半导体)是两种常见的图像传感器,它们各自有其独特的构造和工作方式。CCD通常以逐行扫描的方式存储和传输图像信号,而CMOS则是并行处理多个像素,使得它在能耗和成本上更具优势。书中详细讲解了这两种传感器的构造特点、工作特性和应用技术,包括它们在数字照相机、数字摄像机、手机、个人计算机及PDA等设备中的广泛应用。
随着片上系统(Integrated Circuit System-on-Chip,SoC)的发展,CMOS图像传感器的潜力得到了进一步挖掘,因为它能够集成更多的功能于单个芯片上,提高了效率和灵活性。书中的内容不仅涵盖了这些技术的详细介绍,还探讨了未来的发展趋势和可能的应用领域。
《外部光电效应与内部光电效应》是一本实用的指南,帮助读者理解并掌握CCD和CMOS图像传感器的工作原理,以及它们如何推动现代信息技术的进步。无论是理论研究还是实际应用,这本书都能提供有价值的信息和深入的见解。
2021-02-23 上传
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Davider_Wu
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