自动功率电子分析：偏移校正与高效开关电源测试

"本文主要探讨了偏移实例在电子分析中的重要性，特别是在开关电源(SMPS)的设计和测试中。文章通过一个具体的9.4ns偏移示例，展示了探头延迟对功率测量的影响，指出校正偏移后可以显著减少5.6%的测量误差。随着SMPS技术向更高效率、更高功率密度、瞬时负荷处理、低电压高电流等方向发展，准确的偏移校正是确保测量精度的关键。 文章进一步讨论了开关电源设计面临的挑战，包括提高效率、降低开关损耗、改善磁性器件损耗、加快控制环路响应，以及提高系统可靠性。为应对这些挑战，设计者需要高效且可靠的测试工具，以满足各种电源质量标准，例如EN61000-3-4A14标准，同时进行调制分析、谐波反馈等测试。 传统的电源测量方法如万用表已无法满足现代需求，示波器因其高带宽能力已成为电源测量的主要工具。然而，电源测量涉及一系列复杂因素，如浮动电压、脉宽变化等，因此在电压和电流探测中必须考虑安全性和精确性。文章指出，测量MOSFET的Vds时，由于其浮动特性，直接接地测量可能导致安全隐患。两种常见的解决方案是浮动示波器和准差分测量，但它们各自有局限性，如安全风险和共模电压抑制不足的问题。 因此，文章强调了创新的自动功率电子分析与测试方案的重要性，这种方案应能提供安全的电压和电流探测解决方案，快速调整探头延迟，最小化探头偏置，并具有足够的记录长度来捕捉长的工频波形。这些功能对于准确评估开关电源性能，尤其是在高电压、高速度的环境中，显得尤为关键。" 这篇内容详尽的文章揭示了在开关电源领域，尤其是在进行高精度测量时，理解并解决偏移问题的必要性。随着技术的进步，开发创新的自动化测试方案，以适应更复杂、更精密的电源设计，成为了工程师们的重要任务。