三源变异产品重复降级测试策略优化

本文是一篇研究论文，标题为《规划具有三源差异性的产品重复降级测试》（Planning Repeated Degradation Testing for Products with Three-Source Variability），发表在2016年的《IEEE Transactions on Reliability》第65卷第2期。作者包括Zheng-Xin Zhang、Xiao-Sheng Si、Chang-Hua Hu、Qi Zhang、Tian-Mei Li和Cong-Qi Xu。该研究关注的是在高度可靠的电子产品或组件中，由于时间变异性、单个单位间变异性和测量误差所造成的三源变异性的背景下，如何有效地计划重复降级测试。 在许多高可靠性产品中，如航空航天设备或医疗设备，其性能随时间逐渐降低，这就需要进行重复降级测试来评估产品的使用寿命。然而，这类产品的特性往往表现出三种不同的变异来源：1）时间变异性，即随着时间的推移，产品的性能可能因环境因素而有所不同；2）单位间变异性，不同个体之间的初始性能或衰退速度可能存在差异；3）测量变异性，即测量设备或方法的不准确性可能导致性能评估的偏差。 本文的主要目标是解决如何在有限的测试预算内决定合适的测试单元数量和测量安排，以便准确地估计关键性能指标，如平均寿命、可靠度或故障率。为了实现这一目标，研究者采用了一种Wiener退化过程模型，该模型考虑了随机漂移系数和恒定波动系数，以更好地捕捉和模拟实际测试数据中的变异行为。 在这个优化模型中，测试预算作为约束条件，意味着设计者必须在满足精度需求的同时，尽可能地减少资源消耗。通过数学建模和优化技术，作者探讨了如何在测试策略上做出最优决策，以达到最高的效率和有效性。这篇论文不仅提供了理论分析，还可能包含实验验证和案例研究，为实际产品开发过程中的重复降级测试规划提供了有价值的指导原则。因此，它对电子工程、质量控制和可靠性工程领域的研究人员和工程师具有重要的参考价值。