复旦大学自编《专用集成电路设计与测试》讲义

"《专用集成电路设计方法》是复旦大学自编的一份考研讲义，主要涵盖了专用集成电路（ASIC）的设计方法、测试技术和可编程ASIC的相关知识。" 本书首先介绍了ASIC的基本概念，包括其在应用中的重要性以及经济考量。在第2章中，深入探讨了ASIC设计的指标和综合因素，特别是针对深亚微米设计技术的新问题和挑战，如线延迟、电源噪声和功耗管理等。深亚微米设计技术包括先进的工艺节点下的设计规则、布局布线策略以及信号完整性分析。 第3章专注于ASIC的测试方法。内容涵盖组合电流脉冲测试生成算法，如通路敏化法、D算法和布尔差分法，这些方法用于检测集成电路中的故障。此外，还讲解了同步时序电路的测试生成算法，以及如何通过结构可测性设计（Structured Testability Design, STD）提高测试效率，如特定测试性、结构可测性设计法和内建自测性（Built-In Self-Test, BIST）技术。测试访问和边界扫描结构也是这一章的重点，它们是实现高效测试的关键。 第4章则转向可编程ASIC，这是现代电子设计中一个重要的方向。本章概述了可编程ASIC的基本概念，详细讨论了这类芯片的结构、资源和分类，如可编程逻辑单元（Programmable Logic Cell, PLC）和互连特性。同时，介绍了可编程ASIC的开发系统，如Xilinx设计开发系统，包括FPGA的配置过程，这些工具在实现快速原型验证和灵活设计方面具有显著优势。 《专用集成电路设计方法》是一份全面的资料，不仅涵盖了ASIC设计的基础理论，还关注了实际工程中的测试技术和可编程解决方案，对学习和研究集成电路设计的学生及专业人士极具价值。