精确测量光学薄膜光学性质的色散白光光谱干涉仪

"Dispersive white-light spectral interferometer for optical properties measurement of optical thin films" 这篇论文介绍了一种散射式白光频谱干涉仪，该仪器专门用于精确测量多层光学薄膜的相位特性。在光学薄膜领域，尤其是具有特定相位属性的薄膜结构的需求日益增长，这种新型仪器的应用价值显得尤为重要。 文章中提到了一种基于小波变换的差分方法，这种方法能显著抵抗群延迟（GD）和群延迟色散（GDD）的测量误差。群延迟是光脉冲通过介质时的时间延迟，而群延迟色散则是群延迟随频率变化的现象，这两者在光学薄膜的特性分析中都是关键参数。通过采用小波分析，该方法能够提高测量的准确性和稳定性，减少由噪声或系统误差引起的不确定性。 除了测量相位特性之外，该设备还展示了一系列其他应用。例如，它可以用于确定压电系数，这在研究压电材料或者需要将光学与机械性能相结合的器件（如压电传感器）中至关重要。此外，它还能实现物理厚度的检索，这对于薄膜制备和质量控制来说是一个非常实用的功能。物理厚度的精确测量对于确保光学薄膜的性能和一致性是必不可少的。 光学薄膜在各种现代技术中都有广泛的应用，包括光学通信、太阳能电池、显示技术、精密光学仪器和半导体制造等。因此，一个高效且精确的测量工具，如文中所述的散射式白光频谱干涉仪，对于推动这些领域的技术创新和发展具有重大意义。 文章发表于2010年的《中国光学快报》增刊上，作者来自浙江大学的现代光学仪器国家重点实验室。他们通过引入新颖的测量技术和扩展的应用范围，为光学薄膜的表征提供了一个强有力的工具，为未来的光学薄膜研究和工业生产提供了重要的技术支持。