TRC与Golomb编码结合的二维测试数据压缩方法

"结合TRC和Golomb编码的二维测试数据压缩 (2011年) - 大庆石油学院学报 - 第35卷第3期 - 高紫俊, 许晶 - 内建自测试(BIST), 测试数据压缩, Golomb编码, 扭环计数器(TRC)" 本文主要探讨了在确定性内建自测试(Deterministic Built-in Self-Test, DBIST)中如何有效降低测试数据的存储需求。作者提出了一个创新的方案，该方案结合了扭环计数器(Twisted Ring Counter, TRC)和Golomb编码来实现二维测试数据的压缩。 首先，文章介绍了扭环计数器(TRC)在测试集嵌入技术中的应用。TRC是一种特殊的计数器，它可以生成特定的测试序列，用于检测集成电路中的故障。通过将TRC嵌入到测试集中，可以对测试向量进行垂直压缩，从而减少确定性测试向量的数量，这是针对测试数据的第一维度进行压缩。 接着，文章引入了Golomb编码，这是一种无损数据压缩方法，特别适用于编码稀疏或非均匀分布的数据。在TRC压缩后的测试向量（即TRC种子集）上应用Golomb编码，可以进一步实现水平压缩，降低每个测试向量的位数，这是针对测试数据的第二维度进行压缩。 实验结果基于ISCAS89标准电路，显示与现有算法相比，该方案实现的测试电路平均能减少30%的存储位数。同时，由于采用的测试控制逻辑电路相对简单，因此具有良好的可重用性，这对于降低测试成本和提高测试效率至关重要。 关键词：内建自测试(BIST)是集成电路测试的一种重要方法，尤其在复杂的片上系统(System-on-Chip, SoC)中，它能够减少对外部测试设备的依赖。测试数据压缩是降低BIST系统存储需求的关键技术，而Golomb编码和TRC的结合提供了一种高效的解决方案。扭环计数器(TRC)以其特定的测试序列生成能力，能够有效地压缩测试向量，而Golomb编码则在压缩已压缩数据方面表现出色。 该研究为DBIST提供了新的思路，通过结合TRC和Golomb编码，实现了测试数据的高效压缩，有助于减少测试成本并提高测试系统的性能。这一方法对于深亚微米技术下的集成电路测试具有实际应用价值。