TLV5619：12位并行数字-to-模拟转换器详细解析
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更新于2024-07-25
收藏 552KB PDF 举报 TLV5619是一款由德州仪器（TI）生产的12位并行数字-to-模拟转换器（DAC），适用于2.7V至5.5V的单电源操作。这款芯片具有高精度和低功耗的特点，特别适合在微处理器和TMS320 DSP兼容系统中使用。
详细说明：
1. **电源范围**：TLV5619可以在2.7伏到5.5伏的电压范围内工作，这使其能够适应广泛的电源环境，同时在3伏电源下也能保持良好的性能。
2. **精度**：该器件具有出色的线性度，±0.4LSB的差分非线性度（DNL）和±1.5LSB的积分非线性度（INL）。这些参数确保了输出电压的精确转换，对于需要高精度信号生成的应用至关重要。
3. **并行接口**：12位的并行接口设计使得数据输入快速且高效，与微处理器和TMS320 DSP等系统无缝对接。
4. **双缓冲数据**：12个数据位是双缓冲的，允许异步更新输出，通过LDAC（加载并保持）引脚实现，这样可以避免在数据传输期间对输出造成干扰。
5. **低功耗**：在5伏电源下，TLV5619的功耗仅为8毫瓦，而在3伏电源下降低至4.3毫瓦。此外，通过进入电源down模式，功耗可进一步降至50纳瓦，非常适用于对电源效率有严格要求的应用。
6. **内部电源复位**：内置的电源复位功能确保在上电或电源波动时，设备能恢复到预设状态，增强了系统的稳定性。
7. **快速settling时间**：1微秒的settling时间意味着输出电压能够在极短的时间内稳定下来，这对于高速应用非常重要。
8. **输出放大器**：输出电压由一个×2增益的rail-to-rail运放缓冲，其Class A输出级提升了输出稳定性，增强了信号质量。
9. **封装结构**：虽然在提供的信息中没有明确提及具体的封装类型，但通常TI会提供多种封装选项，如SOIC、TSSOP等，以满足不同设计需求。
10. **应用领域**：TLV5619适用于需要高精度、低功耗和快速响应的模拟信号生成的各种应用，包括音频系统、数据采集系统、工业控制、通信设备以及测试和测量设备等。
TLV5619是一款高性能、低功耗的12位DAC，其特性使其成为许多需要高精度模拟输出的电子系统中的理想选择。其灵活的接口、优秀的线性度和低功耗设计，确保了在各种应用环境中的出色表现。
www.ti.com
TIMING REQUIREMENTS
TLV5619
SLAS172F – DECEMBER 1997 – REVISED FEBRUARY 2004
REFERENCE INPUT (REFIN)
PARAMETER TEST CONDITIONS MIN TYP MAX UNIT
V
ref
Reference input voltage See
(1)
0 V
DD
-1.5 V
R
i
Reference input resistance 10 MΩ
C
i
Reference input capacitance 5 pF
Reference feed through REFIN = 1 V
pp
at 1 kHz + 1.024 V dc (see
(2)
) 60 dB
Reference input bandwidth REFIN = 0.2 V
pp
+ 1.024 V dc at -3 dB 1.4 MHz
DIGITAL INPUTS (D0-D11, CS, WE, LDAC, PD)
I
IH
High-level digital input current V
I
= V
DD
1 µA
I
IL
Low-level digital input current V
I
= 0 V 1 µA
C
i
Input capacitance 8 pF
(1) Reference input voltages greater than V
DD
/2 will cause output saturation for large DAC codes.
(2) Reference feedthrough is measured at the DAC output with an input code = 0x000 and a V
ref(REFIN)
input = 1.024 V dc + 1 V
pp
at
1 kHz.
POWER SUPPLY
PARAMETER TEST CONDITIONS MIN TYP MAX UNIT
5-V Supply 1.6 3
I
DD
Power supply current No load, All inputs 0 V or V
DD
mA
3-V Supply 1.44 2.7
Power down supply current 0.01 10 µA
ANALOG OUTPUT DYNAMIC PERFORMANCE
PARAMETER TEST CONDITIONS MIN TYP MAX UNIT
5-V
V
ref(REFIN)
= 2.048 V,
8 12 V/µs
Supply
C
L
= 100 pF, V
ref(REFIN)
=1.024 V,
SR Slew rate
R
L
= 10 kΩ V
O
from 10% to 90%
3-V
6 9 V/µs
V
O
from 90% to 10%
Supply
Output settling time (full
t
s
To ±0.5 LSB, R
L
= 10 kΩ, C
L
= 100 pF, See
(1)
1 3 µs
scale)
Glitch energy DIN = all 0s to all 1s 5 nV-s
f
s
= 480 kSPS, BW = 20 kHz, C
L
= 100 pF, 5-V
S/N Signal to noise 65 78
f
OUT
= 1 kHz, R
L
= 10 kΩ , T
A
= 25°C, See
(2)
Supply
5-V
58 67
Supply
f
s
= 480 kSPS, BW = 20 kHz, C
L
= 100 pF,
S/(N+D) Signal to noise + distortion
f
OUT
= 1 kHz, R
L
= 10 kΩ, T
A
= 25°C, See
(2)
3-V
58 69 dB
Supply
f
s
= 480 kSPS, BW = 20 kHz, C
L
= 100 pF,
Total harmonic distortion 68 60
f
OUT
= 1 kHz, R
L
= 10 kΩ, T
A
= 25°C, See
(2)
Spurious free dynamic f
s
= 480 kSPS, BW = 20 kHz, C
L
= 100 pF,
60 72
range f
OUT
= 1 kHz, R
L
= 10 kΩ, T
A
= 25°C, See
(2)
(1) Settling time is the time for the output signal to remain within ±0.5 LSB of the final measured value for a digital input code change of 32
to 4063 or 4063 to 32. Limits are ensured by design and characterization, but are not production tested.
(2) 1 kHz sinewave generated by DAC, reference voltage = 1.024 V at 3 V and 2.048 V at 5 V.
DIGITAL INPUTS
MIN NOM MAX UNIT
t
su(CS-WE)
Setup time, CS low before positive WE edge 13 ns
t
su(D)
Setup time, data ready before positive WE edge 9 ns
t
h(D)
Hold time, data held after positive WE edge 0 ns
t
su(WE-LD)
Setup time, positive WE edge before LDAC low 0 ns
t
wh(WE)
Pulse width, WE high 25 ns
t
w(LD)
Pulse width, LDAC low 25 ns
5
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