使用Flask-Admin构建图形化管理界面教程
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更新于2024-08-06
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"flask的图形化管理界面搭建框架flask-admin的使用教程"
这篇文档主要介绍了数字集成电路(Digital IC)系统设计的相关知识,特别是聚焦于可测性设计这一主题。可测性设计是集成电路设计中的一项重要技术,用于确保芯片在制造过程和使用中的测试能力。在数字IC系统设计中,可测性设计(DFT,Design for Testability)旨在增加电路的测试易用性和效率,以便在生产过程中检测和修复潜在缺陷。
首先,文档提到了一种使用扫描寄存器的结构,这是可测性设计中的常见方法。在扫描模式下,电路的时序路径被转化为一种特殊结构,允许通过输入端口和扫描寄存器输入激励,同时利用扫描寄存器将组合逻辑的输出移出到输出端口。这种方式使得工程师能够方便地添加和捕获信号,对于测试和验证电路功能至关重要。
除了可测性设计,文档还涵盖了IC设计的其他关键方面:
1. **IC系统设计概述**:随着技术的发展,IC设计经历了从微米尺度到纳米尺度的转变,推动了片上系统(SoC)的兴起。SoC集成了处理器和其他模块,降低了产品成本并广泛应用于通信和多媒体领域。基于IP的开发模式成为了SoC设计的标准,其中涉及到设计复用、IP验证、集成、系统验证以及软硬件协同设计等挑战。
2. **设计难点**:在深亚微米设计中,连线延迟的估计变得更为困难,因为连线延迟与单元延迟相当,可能导致设计收敛问题。此外,串扰是另一个问题,它发生在相邻线路之间,影响延迟,可能导致性能下降或功能错误。
3. **其他章节概览**:虽然未提供这些章节的详细内容,但提到了静态时序分析、形式验证和低功耗设计,这些都是IC设计的关键步骤。静态时序分析用于确定电路的延迟和时序约束,形式验证则确保设计满足预期行为,而低功耗设计则是为了在保持性能的同时减少功耗。
这份资料提供了关于数字IC系统设计的全面概述,包括其组成部分、设计流程、面临的挑战以及解决这些问题的技术和策略。特别是对于想要学习和理解集成电路可测性设计的人来说,是一份有价值的参考资料。
2020-09-21 上传
2019-08-12 上传
2019-08-10 上传
2021-05-04 上传
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