JTAG接口电路测试系统上位机软件设计与实现

"基于JTAG接口电路测试系统的上位机软件设计与实现" 本文主要探讨的是随着大规模集成电路技术的发展，传统测试方法面临挑战，而边界扫描理论及其相关的IEEE 1149.1标准应运而生。边界扫描是一种有效的芯片测试方法，尤其在面对复杂且小型化的集成电路时。国外许多测试设备提供商已经开发了基于IEEE 1149.1标准的测试系统，包括测试控制器和上位机软件。然而，国内对此标准的研究和应用仍处于初级阶段。 上位机软件在测试系统中的核心地位不言而喻，它负责生成测试矢量、处理响应分析等一系列关键任务。因此，设计和实现一个高效、功能完备的上位机软件对于整个测试系统的性能至关重要。论文的焦点在于详细阐述如何利用JTAG（Joint Test Action Group）接口来构建电路测试系统，并专注于上位机软件的设计与实现过程。 JTAG接口是一种通用的硬件调试和测试标准，通过该接口，测试工具能够访问电路内部的边界扫描链，进行在线测试和故障诊断。测试矢量是控制集成电路内部节点状态的一系列指令，而响应分析则涉及对测试结果的解析，以评估被测设备的功能和性能。 该硕士学位论文由钱浩撰写，指导教师为谢永乐教授，专注于测试计量技术及仪器学科。论文详述了如何设计能够有效配合JTAG接口的上位机软件，以提高集成电路测试的效率和准确性。此外，论文可能涵盖了软件架构设计、算法实现、用户界面设计、数据通信协议以及错误处理等方面的内容，旨在为国内的集成电路测试领域提供有价值的参考和实践指导。 总体而言，这篇论文对于理解JTAG接口在现代电子设备测试中的应用，以及如何开发相应的上位机软件具有重要意义。通过深入研究和实施这样的系统，不仅可以提升我国在集成电路测试领域的技术水平，还有助于推动相关产业的发展。