JTAG接口电路测试系统上位机软件设计与实现
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更新于2024-07-19
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"基于JTAG接口电路测试系统的上位机软件设计与实现"
本文主要探讨的是随着大规模集成电路技术的发展,传统测试方法面临挑战,而边界扫描理论及其相关的IEEE 1149.1标准应运而生。边界扫描是一种有效的芯片测试方法,尤其在面对复杂且小型化的集成电路时。国外许多测试设备提供商已经开发了基于IEEE 1149.1标准的测试系统,包括测试控制器和上位机软件。然而,国内对此标准的研究和应用仍处于初级阶段。
上位机软件在测试系统中的核心地位不言而喻,它负责生成测试矢量、处理响应分析等一系列关键任务。因此,设计和实现一个高效、功能完备的上位机软件对于整个测试系统的性能至关重要。论文的焦点在于详细阐述如何利用JTAG(Joint Test Action Group)接口来构建电路测试系统,并专注于上位机软件的设计与实现过程。
JTAG接口是一种通用的硬件调试和测试标准,通过该接口,测试工具能够访问电路内部的边界扫描链,进行在线测试和故障诊断。测试矢量是控制集成电路内部节点状态的一系列指令,而响应分析则涉及对测试结果的解析,以评估被测设备的功能和性能。
该硕士学位论文由钱浩撰写,指导教师为谢永乐教授,专注于测试计量技术及仪器学科。论文详述了如何设计能够有效配合JTAG接口的上位机软件,以提高集成电路测试的效率和准确性。此外,论文可能涵盖了软件架构设计、算法实现、用户界面设计、数据通信协议以及错误处理等方面的内容,旨在为国内的集成电路测试领域提供有价值的参考和实践指导。
总体而言,这篇论文对于理解JTAG接口在现代电子设备测试中的应用,以及如何开发相应的上位机软件具有重要意义。通过深入研究和实施这样的系统,不仅可以提升我国在集成电路测试领域的技术水平,还有助于推动相关产业的发展。
2014-03-13 上传
2024-10-27 上传
2024-10-27 上传
2022-09-20 上传
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2023-02-24 上传
2020-08-04 上传
zhangyanankoo
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