静电防护：ESD原理、测试与设计策略解析

"屈小珠的演讲主要涵盖了ESD（静电放电）的基本原理、测试方法以及针对手机的防ESD设计策略。他强调了ESD对电子设备，尤其是手机的危害，包括暂时性功能失效和永久性损伤。演讲内容还涉及了ESD的两种主要破坏机制，即热失效和绝缘击穿，并指出静电在手机中的影响主要是传导干扰/击穿和耦合干扰/击穿。此外，他还讨论了静电测试模型，如人体模型（HBM）、机器模型（MM）和充电器件模型（CDM），并指出HBM是最常用的模型。" 1. ESD原理 静电放电（ESD）是由于物体间的摩擦起电，形成高压电场，当这种高压接触到电子设备，如手机，可能导致设备功能瞬间失效或永久损坏。ESD的影响分为破坏和干扰，前者可能导致设备的热失效或绝缘击穿，后者则可能导致设备暂时功能失效。 2. ESD测试 - ESD测试方法：包括人体模型（HBM）、机器模型（MM）和充电器件模型（CDM）。HBM是最常见的测试模型，模拟人与设备接触时的静电放电情况。MM则模拟机械工具与设备的接触，而CDM则关注设备自身充电后引发的静电放电。 - ESD调试步骤：涉及识别潜在的ESD风险点，进行模拟放电测试，评估设备的抗ESD能力，并根据测试结果进行改进。 3. ESD设计应对策略 - 结构设计对策：整机设计应考虑减少静电积累，比如采用静电防护材料，优化外壳设计，避免大面积金属可能导致的耦合干扰。 - 硬件设计对策：主板设计中，应使用抗静电元器件，优化布线，避免敏感电路路径上的静电路径，增加保护电路以吸收和分散ESD能量。 4. 标准与应用 ESD属于电磁兼容（EMC）中的电磁耐受性（EMS）部分，相关标准包括GB/T 17626.2、IEC 61000-4-2和EN 61000-4-2，它们之间具有等同性。在实际产品规格书中，通常会参考HBM和MM模型来设定抗ESD性能要求。 屈小珠的演讲深入浅出地解析了ESD对手机的危害，提供了有效的测试和设计策略，旨在提升手机的抗ESD能力和整体可靠性。