使用PC-DMIS Vision测量系统：简介、设置和测量目标

PC-DMIS Vision测量系统是一种用于测量零件特征的光学测量工具。本文档的目的是介绍如何使用PC-DMIS Vision和光学测量系统来测量零件上的特征。 PC-DMIS Vision是一种非接触式的触控测量法，它通过收集多个测量点来快速捕获特征。这种测量方法特别适用于测量平坦型的特征。例如，在一个主电路板上，有不同颜色的电路板可以重叠，使用传统的接触测头无法检测到这种特征。但是，使用PC-DMIS Vision测量系统可以轻松地捕捉到这种特征。 在使用PC-DMIS Vision测量系统之前，首先需要了解一些基本概念和操作步骤。例如，了解PC-DMIS Vision中的目标和相机设置是很重要的。在PC-DMIS Vision中，可以使用Vision QuickMeasure工具栏和图形显示窗口来进行测量。此外，还可以使用色差白光传感器(CWS)来实现更准确的测量。 此外，在PC-DMIS Vision测量系统中，有一些常用的操作步骤和技巧。例如，可以使用测头工具栏来选择测头，使用Vision量规来创建坐标系，并使用影像测头进行测量。此外，还可以使用自动特征和自动调整执行来提高测量的效率和准确性。 在使用PC-DMIS Vision测量系统时，还可以使用一些特殊的命令和技术来处理异常情况。例如，使用On Error命令来处理错误并采取相应的措施，使用图像捕获命令来捕获图像并进行分析。另外，在PC-DMIS Vision中，可以使用一个uEye相机来创建多个“虚拟”相机，以便同时进行多个测量。 在附录A中，列举了一些常见问题，并提供了解决方法。在附录B中，介绍了如何增加环形工具，以进一步扩展PC-DMIS Vision测量系统的功能。 综上所述，PC-DMIS Vision测量系统是一种非常有用的工具，它可以帮助用户在测量零件特征时提高效率和准确性。通过了解和掌握PC-DMIS Vision测量系统的操作步骤和技巧，用户可以更好地利用该工具进行测量工作。附录中提供的常见问题解决方法和扩展功能也进一步增强了该工具的实用性。