Duke大学Fastscan测试模式生成教程

"快速扫描(Duke大学教程)：一个关于使用Mentor Graphics Fastscan进行测试模式生成的简明教程" 这篇教程主要介绍了如何利用Mentor Graphics的Fastscan工具进行测试模式生成，适用于集成电路(IC)设计中的故障检测。Fastscan是一款广泛使用的自动测试模式生成(ATPG)软件，能够帮助工程师在设计验证阶段发现并修复潜在问题。 1. **引言** 引言部分可能简要介绍了测试模式生成的重要性，特别是在IC设计中的角色，以及Fastscan作为一款高效的工具，如何简化这一过程，使得初学者也能快速上手。 2. **运行ATPG与Mentor Graphics Fastscan** 这一部分详细讲解了如何使用Fastscan进行不同类型的故障测试。 - **固态故障(Stuck@Fault)测试生成** - 流程步骤：这部分可能涵盖了设置故障模型、运行ATPG算法、生成测试向量和分析结果的基本步骤。 - **无时序信息的转换故障(Transition Fault)测试生成** - 流程步骤：讲解在不考虑时序约束的情况下，如何生成测试向量来检测转换故障。 - **带时序信息的转换故障测试生成** - 背景：这部分可能讨论了考虑时序信息在提高测试效率和准确性方面的必要性。 - 流程步骤：详述如何结合时序信息来优化测试向量生成。 - **无时序信息的路径延迟故障(Path Delay Fault)测试生成** - 流程步骤：介绍如何在不考虑具体时序路径的情况下，检测由于路径延迟引起的故障。 - **桥接故障(Bridging Fault)测试生成** - 桥接故障模型限制：这部分可能探讨了桥接故障模型的局限性和其对测试覆盖的影响。 - 流程步骤：阐述生成桥接故障测试向量的方法。 3. **实例分析** 本节通过两个具体例子展示了如何在实际设计中应用Fastscan。 - **无扫描触发器的简单示例(c3540)** - 准备工作：解释了在没有扫描触发器的情况下，如何准备设计输入。 - 固态故障ATPG：演示了如何针对固态故障生成测试向量。 - 转换故障ATPG：展示了如何进行转换故障测试。 - **带有扫描触发器的示例(s38584)** - 准备工作：讨论了在有扫描触发器的设计中，如何进行预处理。 - 固态故障ATPG：同上，但针对扫描触发器环境。 - 转换故障ATPG：介绍了启动捕获(Launch on Capture, LOC)方法以及时序感知ATPG，这两个是针对有扫描路径的电路进行转换故障测试的关键技术。 这个教程提供了对Fastscan工具全面而实用的理解，包括各种故障模型和测试方法，以及在实际设计中的应用，对于学习和掌握测试模式生成技术非常有帮助。通过实例分析，读者可以更好地理解Fastscan的使用流程，并将理论知识转化为实践技能。