FPGA驱动的高性能DAC芯片测试与关键技术

本文主要探讨了基于FPGA的高性能DAC(数字到模拟转换器)芯片测试与研究。D/A转换器在数字系统与模拟系统之间扮演关键角色，对速度、灵敏度、线性误差、信噪比和增益误差等性能有严格要求。当前，测试标准如IEEE Std.1057提供了一定的指导，但传统方法如信号发生器和示波器测试精度有限，而大规模自动测试设备（ATE）成本高昂。 文章着重介绍了新型测试策略，例如利用V777数字测试系统进行集成测试，通过模拟滤波器进行音频DAC测试，以及Quartet这样的数模混合信号测试系统来评估高速DAC的性能。然而，这些方法在通用性、精确度和成本之间往往难以平衡。为解决这个问题，文中提出了一种创新的解决方案，即基于FPGA的高性能DAC芯片回路测试法。 该测试法的核心是构建一个完整的信号回路，FPGA负责生成待测信号，DAC芯片将其转换为模拟信号，然后通过测量回路的性能来评估芯片的各项指标。静态特性参数如失调误差、增益误差、积分非线性误差和微分非线性误差反映了芯片的精度，而动态特性参数如信噪比、有效位数、总谐波失真和无杂散动态范围则衡量了其在动态工作状态下的性能。 这篇文章旨在解决高性能DAC芯片测试中的挑战，通过结合FPGA的优势，提供一种既能保证测试精度又能降低测试成本的高效测试方法，对于推动高速、高分辨率DAC芯片的研发具有重要意义。