三极管参数测试仪设计与实现

"三极管参数测量仪是一种专门用于检测半导体三极管各项参数的设备，由汪付强、王斌和马坤设计，姚福安和万鹏指导。该仪器利用AT89C55WD单片机作为核心，结合C51编程，通过继电器控制，能够准确测量三极管的基极电流、发射极电流，以及交直流放大系数、集电极-发射极反向击穿电压和反向饱和电流。系统还包括ADC0809和运放的数据采集电路，以及DAC0832和继电器组成的数控电压源。此外，它还能通过液晶显示器显示参数，并通过MAX232实现与PC机的串行通信，以便数据存储和打印。" 在设计中，针对三极管基极和集电极电压的采样电路，提出了三种方案。方案一直接测量电阻两端电压，但电路复杂且精度不足；方案二通过发射极串接电阻测量电流，但影响基极电位的确定；方案三则采用两路独立的采样电路，结合运放和INA126，实现高精度的电压采样。最终选择了方案三，因其结构简洁且测量精度高。 对于反向击穿电压的测量，同样有两种方案。方案一通过变压器和三端稳压器提供可调电压，但高压检测困难且易损坏电路；方案二则利用DAC0832输出的电压经倍压电路，通过监测电流变化来确定反向击穿电压，这种方法更安全且易于控制。最终选择了方案二，因为它在确保安全性的前提下，提供了精确的电压测量。 这个三极管参数测量仪的设计不仅关注测量精度，还考虑了操作的安全性和便捷性，通过与PC机的串行通讯功能，使得数据处理和分析更为直观和高效。这种仪器对于半导体器件的研发、生产和维修具有重要的实用价值，能够帮助工程师快速准确地获取三极管的关键性能指标。