事件驱动的模拟流程与VLSI测试方法：理论与应用

事件驱动的模拟主流程图在VLSI（Very Large Scale Integration，大规模集成电路）设计中扮演着关键角色。在电路设计中，模拟是验证电路功能和性能的重要手段，特别是在大规模集成电路的复杂性下，如图2.4所示的流程图展现了事件驱动的模拟过程。这个流程涉及多个步骤，包括延迟模型的选择、输入激励信号的生成、模拟结果的判断以及故障模拟。 延迟模型是模拟准确度的关键因素，通过分配不同元件实际的延迟可以提高模拟的精度，但这也可能导致模拟时间的增加。静态时间分析（STA）作为一种精确的分析方法，它关注关键路径的延迟，考虑了负载电容等影响，尽管这可能忽略了逻辑功能的某些细节。模拟设计验证过程中，需要解决三个核心问题：生成适当的输入信号、分析模拟结果的有效性，以及确定合适的输入施加策略，这些都是测试生成、分析和施加的问题。 故障模拟则是通过模拟器在设计模型中引入故障，然后对比有故障和正常情况下的响应，以便测试特定故障出现的条件、图形生成的正确性以及测试效率。这个过程有助于评估设计的鲁棒性和可靠性。 VLSI测试方法学和可测性设计是一门专门研究如何确保大规模集成电路质量的学科。《VLSI测试方法学和可测性设计》这本书深入探讨了电路测试的基础理论，包括数字电路的描述和模拟、组合电路和时序电路的测试策略、专用可测性设计技术、如扫描和边界扫描、IDDQ测试、随机和伪随机测试、测试生成电路结构的关系，以及内建自测试（Built-in Self-Test，BIST）和数据压缩等技术在可测性设计中的应用。此外，书中还涵盖了Memory和SoC（System-on-Chip）等复杂系统的设计方法。 这本书不仅适合集成电路设计、制造、测试和应用的专业人员作为参考，也适合高等教育机构的高年级学生和研究生作为教材。它强调了VLSI测试在电路生命周期中的重要地位，并提供了一个综合的框架，帮助读者理解并掌握这一领域的先进技术和实践。 事件驱动的模拟主流程图是VLSI设计中的一个核心工具，它结合了精确的延迟模型、有效的故障模拟，以及一套完整的测试方法学，以确保大规模集成电路产品的高质量和可靠性。通过学习和理解这些内容，工程师们可以更好地优化他们的设计过程，提高产品质量和性能。