LTE产品测试方法与CMW500配置指南

"LTE类产品测试方法指导文档详细阐述了如何使用CMW500设备进行LTE产品的各项关键性能测试，包括初始配置、发射功率、功率控制、EVM、频率误差、占用带宽、ACLR、功率控制容限、带内发射、IQ特性等多个方面。文档覆盖了测试步骤、参数设置和相关计算方法，并提供了LTE对应频段、EVM计算等附录内容，旨在确保测试的准确性和全面性。" 本文档详细介绍了在测试LTE产品时采用CMW500测试平台的方法。首先，1.1章节的CMW500初始配置设置讲解了设备的复位、全局设置、线损配置、功率控制模式选择以及网络连接设定，这些是进行所有测试前的基础准备工作。 在1.2至1.12章节，文档逐步深入到各项具体性能测试。最大发射功率测试关注设备在极限条件下的发射能力；最大功率衰减（MPR）和附加最大功率衰减（A-MPR）测试是评估设备在不同限制条件下的功率调整能力；配置UE功率测试则考察终端设备的功率控制精度。EVM（矢量幅度误差）测量的是信号质量，1.4节详细说明了PUSCH信道的EVM测试；1.5节频率误差测试确保设备发射信号的频率稳定性；1.6至1.8节涉及占用带宽、ACLR（临道泄漏比）和功率控制容限，这些都是衡量频谱效率和干扰控制的重要指标；1.9至1.12节包括带内发射、IQ特性、EVM与子载波的关系、频谱平坦度以及发射模板，这些测试旨在验证设备的频谱纯净度和发射特性。 2.1节的LTE Ext.BLER测试关注误码率，这是衡量数据传输可靠性的重要指标；最大输入电平测试则是为了确保设备能处理不同强度的输入信号而不致损坏。 附录部分提供了LTE对应频段的信息、EVM计算方法、频谱发射模板的判定标准、最大功率衰减的测试目的，以及LTE综合测试软件的使用指南和校准环境的搭建步骤，这些补充信息有助于更全面地理解和执行测试过程。 总体而言，这份测试方法指导是LTE产品开发和质量控制的重要参考资料，它系统地涵盖了从基本设置到复杂测试的所有环节，确保了测试的标准化和有效性。