微电脑驱动的TTL集成电路逻辑测试仪：原理与应用

本文主要探讨了如何利用微电脑作为TTL系列集成电路逻辑测试仪的创新解决方案。在1987年的背景下，随着大规模集成电路和微处理器技术的快速发展，作者苏丽英和戴在平针对这一领域进行了深入研究。他们提出了一种以"MICRO PROFESSOR"单板机为核心的测试系统，该系统结合了硬件电路设计和微电脑软件程序，旨在提供快速、精确的TTL集成电路质量评估。 文章首先强调了微处理器在集成电路测试中的优势，它通过集成软硬件功能，简化了传统电子测量仪的手动操作流程，提高了测试效率和精度，使得测试过程更加自动化和智能化。相比于传统的示波器测试，计算机辅助测试虽然成本较高，但能更好地满足大规模集成电路的批量测试需求，而且测试速度快、准确性高。 文章详细介绍了测试原理和硬件电路设计，着重讨论了基于2N功能测试的微电脑辅助方法。2N功能测试利用二进制计数器生成特定频率的信号，并根据芯片的功能表和真值表设置条件，将标准电路和被测电路的输入输出端进行对比，以判断电路的功能是否正确。这种方法显著提高了测试的通用性和准确性，无需为每种芯片单独设计复杂的测试电路，节省了时间和资源。 总结来说，这篇论文的核心内容在于介绍了一种新型的TTL集成电路逻辑测试仪，它利用微电脑技术简化测试流程，提高测试效率，是当时集成电路测试领域的一项重要研究成果，对于推动我国微电子工业的发展具有积极意义。