"CDV验证思想.pptx：芯片验证与bug发现"

CDV验证思想.pptx；CDV验证思想.pptx;CDV 验证思想 验证是干什么的？ 寻找 bug 的困难 利用随机 分解测试点内容列表 芯片 bug 从何而来？ 验证的两个基本假设 随机的度量 --- 覆盖率 CDV 核心理念 验证是干什么的？ 芯片的研发过程复杂且投资成本高。随着芯片规模和功能复杂性的增加，出现缺陷的可能性也越来越大。重新投资片不仅需要高昂的经济成本，还会耗费大量的时间。因此，在芯片投片前进行验证活动的目标是尽可能发现所有的bug，以降低后续修复的成本和风险。 寻找bug的困难 由于芯片的复杂性，寻找bug是一项极具挑战性的任务。通常，芯片设计中存在大量的状态交叉依赖和功能交织。此外，验证过程中还需要处理多个输入变量和各种可能的操作序列，这都增加了寻找bug的复杂性和难度。 利用随机 为了解决寻找bug的困难，我们可以利用随机的方法进行验证。通过随机生成各种可能的输入和操作序列，可以增加发现bug的概率。随机验证方法可以更全面地覆盖可能的情况，从而提高验证的效率。 分解测试点内容列表 为了提高验证的效率和准确性，可以将测试点内容列表进行分解。通过将测试点内容分解为更小的单元，可以更容易地进行验证和定位问题。这种分解测试点内容列表的方法可以有效地提高验证的精确性和效率。 芯片bug从何而来？ 芯片的缺陷可能来源于各个环节的设计、制造和测试过程。设计阶段可能存在设计错误、功能交叉依赖等问题。制造过程中可能发生工艺缺陷、物理故障等情况。测试过程中可能存在测试不全面、测试设备缺陷等问题。综合考虑以上因素，芯片出现缺陷的原因是复杂多样的。 验证的两个基本假设 在验证过程中，我们需要基于两个基本假设：批处理和局部性原则。批处理原则是指验证过程中发现一个问题后，很可能存在相关的其他问题。局部性原则是指验证过程中发现一个问题后，与该问题相关的其他问题通常会出现在相邻的区域。 随机的度量 --- 覆盖率 在随机验证中，度量测试的覆盖率是非常重要的。覆盖率可以衡量验证活动对芯片设计的探索程度。高覆盖率表示验证活动已经覆盖了设计空间的大部分区域，有更高的发现bug的概率。 CDV核心理念 CDV（Comprehensive Design Validation）是一种综合设计验证方法。它的核心理念是通过在验证活动中使用各种不同的技术和方法，全面地覆盖芯片设计空间，提高发现bug的概率。CDV方法包括随机验证、功能验证、形式验证等。通过综合运用这些方法，可以更全面、高效地进行芯片验证。