抗噪声干扰的相移编码去包裹技术在条纹投影测量中的应用

"条纹投影法中抗噪声干扰的相移编码去包裹方法是一种用于形貌测量的技术，尤其适用于不连续物体。此方法利用多步相移法解决相位去包裹问题，通过在编码图像中嵌入条纹级数信息，以求得绝对相位。在解码过程中，分析不同相移的光强信息序列，可以求得编码相移量。然而，这种方法对投影仪和相机的噪声敏感。为改善这一问题，研究者提出了一个增强噪声鲁棒性的改进方案，即引入互补的编码条纹图像，从而在保持不连续物体形貌测量能力的同时，显著提高了抗噪声能力。通过仿真和实验验证，证明了相移编码去包裹方法的有效性。" 本文着重探讨了条纹投影形貌测量中的一个重要技术——相移编码去包裹，这是一种处理相位信息的方法。相位去包裹是形貌测量的关键步骤，它涉及将相位数据从周期性的包裹形式转换为连续的绝对相位值。在条纹投影法中，通过使用多步相移技术，可以获取物体表面的相位分布，但此过程中可能会遇到相位包裹问题，导致难以得到精确的形貌信息。 为了克服这个问题，研究人员提出了一种创新的相移编码去包裹方法。这种方法的创新之处在于，在常规的相位求解过程中，增加了一幅含有编码信息的图像。这幅图像的编码条纹级数被嵌入到相移量中，使得在解码时，通过对每个像素点处不同相移的光强序列进行分析，能够准确计算出编码相移量，从而获取物体表面的绝对相位。 然而，实际应用中，由于投影仪和相机的噪声，这种相移编码去包裹方法的性能会受到影响。为了解决这个问题，文章进一步提出了一种增强噪声鲁棒性的改进策略。通过引入互补的编码条纹图像，可以在保持对不连续物体形貌测量能力的同时，显著提高系统对噪声的抵抗力。这表明，即使在噪声环境下，也能更稳定地执行相位去包裹，确保形貌测量的精度。 通过一系列的仿真和实验，文章证实了这种改进的相移编码去包裹方法的有效性和噪声抑制能力。这种方法对于提高条纹投影形貌测量的准确性和可靠性具有重要意义，尤其是在面对噪声环境或不连续物体测量时，提供了更为稳健的解决方案。