光栅投影轮廓测量新方法:辅助参考线与高精度标定
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更新于2024-08-27
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"基于辅助参考线的光栅投影轮廓测量系统及标定方法" 是一篇关于光学测量技术的学术文章,由王涛等人撰写。文章介绍了一种改进的光栅投影轮廓测量系统,该系统解决了传统系统在实际应用中的局限性,如对几何尺寸的严格要求和受限的测量基准。
在传统光栅投影轮廓系统中,通常需要精确的几何条件,这在实际操作中难以实现,同时依赖于参考平面来测量物体的相位,限制了系统的灵活性。针对这些问题,作者提出了采用辅助参考线的新型系统模型。这个模型用辅助参考线替代了参考平面,通过它们可以将相对相位转换为绝对相位。文章详细阐述了利用参考线校正相位的数学公式,并且介绍了空间映射与优化算法,这些算法用于从绝对相位计算出被测物体的真实空间坐标。
为了简化标定过程,设计了一种圆线形靶标,只需一个平面靶标就能获取靶标点的空间坐标、靶标相位以及参考线的位置信息。通过这种方式,标定步骤大大简化。文章还进行了实际测量实验,通过两幅图像成功获取了石膏头像的三维数据。通过对平面靶标的平移和旋转间距进行测量,验证了新方法的精度,结果显示靶标平移的均方差为0.02毫米,旋转的均方差为0.03度。这些结果表明,该测量方法不仅速度快,系统搭建和标定简便,而且具有高精度,具有重要的应用潜力。
关键词涉及图像处理、三维形貌测量、辅助参考线、空间映射和标定,表明文章的核心是利用这些技术提升光学测量系统的性能和实用性。该研究对于需要精确三维形貌测量的领域,如制造业、生物医学、文物修复等,有着显著的理论与实践意义。
2021-08-14 上传
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