手机模组OTP烧录原理：等厚干涉与白光干涉详解

本文档主要介绍了等厚干涉和白光干涉的基本原理及其在手机模组OTP烧录过程中的应用。首先，我们了解到等厚干涉是当光源为面光源，如在迈克耳逊干涉仪中，M1与M2镜片之间存在微小角度时，由于空气折射率的变化，形成的干涉现象。这种干涉导致的条纹是平行于M1和M2交线的直线，条纹间距与夹角成反比。白光干涉则涉及到单色点光源产生的明暗相间的条纹，当光程差为半波长的整数倍时，出现明纹，半波长奇数倍时出现暗纹。在干涉实验中，通过调节激光器和干涉仪，观察屏上的同心圆环状干涉条纹会随着M1的位置变化而“涌出”或“缩进”。 实验步骤详细描述了如何校准干涉仪，调整激光束路径以及如何通过观察白光干涉的彩色条纹来测量透明薄膜的厚度。通过改变M1的位置，观察干涉条纹的变化，记录数据并进行处理。数据处理部分展示了如何计算每次条纹变化对应的理论移动距离和实际移动程度的误差，以及如何通过多次测量来确定薄膜厚度的平均值。 此外，文档还提到了伏安法测电阻的实验，这是一种常见的物理学实验，用来验证欧姆定律，通过测量电流和电压来计算电阻。在这个实验中，需要考虑电阻测量的两种方法——安培表内接和外接，以减少测量误差。实验数据和思考题答案的提供有助于学生理解和巩固实验原理，并训练他们在实验过程中处理数据和分析结果的能力。 这篇文档涵盖了光学干涉原理的运用，以及大学物理实验中的具体操作技巧，对于理解干涉现象和实验技能的提升具有重要价值。