ARM JTAG 调试原理详解：TAP 和边界扫描技术

"ARM JTAG 调试原理" ARM JTAG 调试原理是嵌入式系统开发中一个非常重要的知识点，本文将对 ARM JTAG 调试原理进行详细的介绍。 一、ARM JTAG 调试原理简介 ARM JTAG 调试原理是基于 IEEE 1149.1 标准的，JTAG 是 JOINT TEST ACTION GROUP 的简称，IEEE 1149.1 标准是由 JTAG 组织最初提出的，并最终由 IEEE 批准并标准化的。因此，这个 IEEE 1149.1 标准一般也俗称 JTAG 调试标准。 二、TAP(TEST ACCESS PORT) 和 BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE TAP(TEST ACCESS PORT) 是 ARM JTAG 调试原理中的一个重要组件，TAP 是一种测试访问端口，通过 TAP，可以访问芯片内部的寄存器和存储器，从而实现对芯片的调试和测试。 BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE 是 ARM JTAG 调试原理中的另一个重要组件，边界扫描技术的基本思想是在靠近芯片的输入输出管脚上增加一个移位寄存器单元。因为这些移位寄存器单元都分布在芯片的边界上，所以被称为边界扫描寄存器（Boundary-Scan Register Cell）。 三、边界扫描（BOUNDARY-SCAN） 边界扫描技术是 ARM JTAG 调试原理中的一个重要技术，通过边界扫描寄存器单元，可以实现对芯片输入输出信号的观察和控制。对于芯片的输入管脚，可以通过与之相连的边界扫描寄存器单元把信号（数据）加载倒该管脚中去；对于芯片的输出管脚，也可以通过与之相连的边界扫描寄存器“捕获”该管脚上的输出信号。 四、ARM JTAG 调试原理在嵌入式系统开发中的应用 ARM JTAG 调试原理在嵌入式系统开发中有着非常广泛的应用，例如，在嵌入式系统开发中，ARM JTAG 调试原理可以用于对芯片的调试和测试，从而提高系统的稳定性和可靠性。此外，ARM JTAG 调试原理还可以用于对芯片的编程和烧录，从而实现对芯片的配置和管理。 五、结论 ARM JTAG 调试原理是嵌入式系统开发中一个非常重要的知识点，通过了解 ARM JTAG 调试原理，可以更好地理解和掌握嵌入式系统开发的技术要点。同时， ARM JTAG 调试原理还可以广泛应用于各个领域，例如，自动化测试、故障诊断和芯片设计等领域。