0.18um CMOS VCO设计:优化相位噪声与宽带性能
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更新于2024-08-10
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本文档主要探讨了相位噪声优化技术在多用户MIMO下行预编码中的应用,特别是针对宽带CMOS锁相环(VCO)中的噪声管理策略。研究重点在于理解并优化振荡器相位噪声,以提升接收机性能。
1. **闪烁噪声优化**:
- 闪烁噪声是尾电流管和交叉耦合管中的一个重要噪声源,它会被上变频转化为AM噪声,进而转化为PM噪声,形成振荡器相位噪声。为了优化相位噪声的1/f区域,关键在于降低尾电流管的闪烁噪声水平和减少非线性器件的AM-PM转换。通过抑制交叉耦合管的混频效应以及改善其线性工作状态,可以有效抑制闪烁噪声的影响。
2. **白热噪声与混频效应**:
- LC谐振网络中的电阻热噪声和交叉耦合管的沟道电流噪声可直接影响振荡信号的相位。尾电流管的偶次谐波噪声经过交叉耦合管的混频作用,会产生幅度调制(AM)噪声和相位噪声。为了减小相位噪声,交叉耦合管应尽量工作在其线性区,避免远离该区域导致的相位噪声增加。
3. **相位噪声优化技术**:
- 常用的优化方法包括调整工作电流等参数以找到最佳相位噪声工作点,针对闪烁噪声的影响进行AM-PM转换的减小,以及针对特定元件(如尾电流管)进行噪声抑制设计。例如,设计特定的电路结构或使用新型材料以降低闪烁噪声和偶次谐波噪声。
4. **宽带CMOS VCO设计**:
- 文章讨论了宽带CMOS锁相环中VCO的设计挑战,特别是在通信系统日益增长的需求下,需要设计出具有宽频带、低噪声和快速锁定能力的VCO。设计过程涉及VCO技术的最新进展、应用背景下的性能指标设定,以及详细的设计方法和策略。
5. **论文目标与方法**:
- 论文基于0.189微米的Chartered CMOS工艺,旨在设计一款覆盖1.8GHz-3GHz的VCO,这要求作者对VCO的现有研究有深入理解,并结合实际应用设定合理的设计指标,确保最终产品的高性能。
本文深入探讨了如何通过噪声管理技术改进宽带CMOS VCO的性能,以适应高速、低噪声通信系统的需求,强调了对噪声源的精细控制和优化策略在VCO设计中的关键作用。
2021-01-14 上传
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陆鲁
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