USB 2.0 高速电气测试：PID/VID 控制器与嵌入式主机

"USB 2.0 高速电气测试程序" 本文档详细阐述了针对USB 2.0高速电气接口的嵌入式主机（Embedded Host）和OTG（On-The-Go）设备的测试程序，主要关注PID/VID（产品ID/供应商ID）的相关规范。这份修订版1.01的文档旨在确保设备在USB 2.0高速模式下具有良好的信号质量和符合标准的操作。 ### 1. 参考标准 文档引用了以下两个关键标准： - USB 2.0 规范：包含了对USB 2.0协议的详细描述，包括ECN（工程变更通知）。 - OTG&EH 补充：提供了2.0版本的OTG和嵌入式主机的合规计划，定义了测试模式和支持内容。 ### 2. 背景 为了进行USB 2.0高速电气测试，设备必须支持如USB 2.0规范第7.1.20节中定义的测试模式。测试模式的激活是通过SetFeature()命令来实现的，这个命令允许设备进入特定的测试状态，以便进行详细的性能评估。 ### 3. 测试模式支持 - **测试模式设置**：文档详细介绍了如何设置和进入测试模式，以及如何退出这些模式。 - **USB高速PID定义**：PID（Packet Identifier）是USB通信中用于识别数据包类型的关键元素，高速模式下的PID有特定的定义。 - **测试模式详情**：涵盖了各种测试模式的详细操作步骤和目的。 - **测试模式实施**：解释了如何在实际硬件上实现这些测试模式。 - **高速嵌入式主机测试仪（PID/VID）**：这是一种专用工具，用于验证设备在高速模式下的PID/VID传输性能。 ### 4. 测试程序 测试程序详细列出了多个测试项目，包括： - **高速信号质量**（EL_2, EL_3, EL_6, EL_7）：检查高速数据传输时的信号完整性。 - **主机控制器包参数**（EL_21, EL_22, EL_23, EL_25, EL_55）：评估数据包的时序和参数是否符合规范。 - **主机Chirp时序**（EL_33, EL_34, EL_35）：Chirp是高速连接建立过程中的一个步骤，这部分测试其时序准确性。 - **主机挂起/恢复**（EL_39, EL_41）：验证设备在挂起和恢复状态间的转换是否正常。 - **主机Test_J和Test_K**（EL_8, EL_9）：测试差分信号线J和K的状态，以检测信号故障。 - **主机Test_SE0_NAK**（EL_8, EL_9）：SE0状态表示线路处于空闲，NAK是接收器拒绝数据包的信号，此测试检查这两个条件的处理。 ### 5. 填写表格 最后，文档提供了一份表格，用于记录测试结果和任何发现的问题，以供后续分析和改进。 这份文档详细描述了USB 2.0高速电气测试的过程，包括测试模式、设备支持、测试程序以及结果记录，为确保USB 2.0设备在高速模式下的兼容性和性能提供了严谨的评估方法。