AT32 ADC高精度采样与PWM+DMA变频实战

本文档主要介绍了如何利用AT32F437单片机的ADC（模数转换器）和PWM+DMA技术来实现高精度的14.4M采样率以及变频功能。首先，作者提出了一个初步设想，即通过连接三个独立的ADC模块，每个ADC分别采集同一信号源的不同部分，然后将数据合并以达到12M的采样率。ADC时钟被设定在72MHz，考虑到12位分辨率和最小转换时间，位移设置为5个ADC时钟周期，理论上可实现14.4M的采样频率。 实际操作中，作者使用了普通位移模式和DMA模式2进行数据采集，通过ADC配置，确保了数据的正确传输。当使用100kHz的正弦波作为信号源，测量到的波形周期大约包含140个点，这与理论上的14.4M采样率相符，误差较小。 对于PWM变频，文档提到使用DMA多路复用器与高级或通用定时器配合，例如timer1的通道1与硬件引脚PA8相连，实现了timer和DMA的同步工作。作者还提供了具体的DMA和Timer配置示例，包括GPIO的配置，以及DMA数据内容的设置。然而，实际测试中由于数据频率的选择（非900kHz至1.1MHz）和资源分配限制，无法实现每次频率增加量一致。 实验结果显示，尽管存在一定的测试条件限制，但整体上已经成功地将PWM频率从900kHz变频到1.1MHz，并且能够观察到三个周期的变化。这表明作者已经掌握了如何有效地利用AT32F437的ADC和DMA功能来实现高精度的采样和变频控制。 总结起来，本篇文档详细展示了如何通过精心设计和编程，利用AT32F437的ADC和PWM+DMA技术来实现高速数据采集和变频功能，为类似应用场景提供了宝贵的实践经验和参考。