VLSI测试方法与延迟故障分析

"这篇资料涉及的是VLSI(超大规模集成电路)领域的延迟故障及其测试方法。延迟故障是指在电路中由于路径延迟导致的输出错误，通常在特定的测试图形下表现出来。文中提到了robust延迟测试，这是一种当路径上的开关L出现故障，并在特定的测试图形作用下，电路输出与理想状态不符时，该测试图形被认为能够检测到这种延迟故障。确定性的测试生成方法和伪随机测试是检测延迟故障的常用手段，后者尤其适用于BIST（内置自测试）方法。此外，还提到了模拟的延迟测试方法。在故障类型中，暂时失效，包括暂态失效和间歇失效，是重要的讨论点，这两种失效在存储器和微处理器中尤为常见。暂态失效主要由外部干扰引起，而间歇失效则与硬件状态变化相关。" 在VLSI测试方法学和可测性设计中，涵盖了多个核心概念和技术。首先，电路测试和分析的基础理论是理解整个领域的重要基石。数字电路的描述和模拟方法是设计和验证VLSI的基础，包括组合电路和时序电路的测试生成策略。扫描和边界扫描理论是实现可测性设计的关键技术，它们允许对内部节点进行访问以便进行测试。IDDQ测试是一种通过测量集成电路的静态电流来检测故障的方法。随机和伪随机测试原理则提供了更灵活的测试方案，可以生成复杂和多样化的测试序列。 书中还深入探讨了与M序列相关的测试生成方法，以及内建自测试（BIST）原理，这使得集成电路能够在生产后自我诊断，降低了对外部测试设备的依赖。数据压缩结构和压缩关系是提高测试效率的重要手段，尤其是在处理大规模数据时。针对特定类型的电路，如内存和系统级芯片（SoC），书中详细介绍了相应的可测性设计方法，这些都是现代电子设备中不可或缺的部分。 VLSI测试方法学和可测性设计是一门涵盖广泛且深度颇深的学科，涉及到从电路设计到测试的全过程，旨在为集成电路的设计、制造、测试和应用提供全面的技术支持。无论是对于学术研究还是工业实践，这本书都是一个宝贵的资源，适合高年级学生、研究生以及相关行业的专业人员学习和参考。