利用故障模拟与测试模式的EB测试仪，精确定位组合电路故障

本文主要探讨了"利用EB测试仪的故障模拟和测试模式序列的组合电路EB测试仪故障定位算法"，由作者Koji Nakamae、Takashi Ishimura和Hiromu Fujioka，分别来自日本大阪大学信息部系统工程和工程学院。他们的研究着重于改进现有的故障诊断技术，以提高在组合电路中的故障定位效率。 该算法的核心思想是通过结合并发故障模拟与测试模式序列来增强EB测试仪的故障识别能力。首先，算法在一个LSI测试仪上进行并发故障模拟，针对出现错误的输出引脚，检测到的内部信号线上的错误被记录为初始故障候选列表和并发故障列表。这个步骤有助于快速识别可能的故障区域。 接着，通过分析并发故障列表，选择最具针对性的信号线进行探测，目的是最大程度地缩小故障候选范围，减少后续测试的复杂性。为了做到这一点，算法会生成一个或多个随机测试模式，这些模式仅涉及选定的探测线，但不会增加波形测量的时间成本。 在实际测试过程中，EB测试仪会根据既有的故障检测模式以及生成的随机测试模式序列来探测选定的线路。然后，结合探测结果和随机测试模式上的故障模拟，进一步精确定位故障所在。这一过程会反复进行，直至故障候选列表中的故障数量减至1个，确保了定位的准确性。 这项研究的应用价值体现在其能够提高在复杂的组合电路中找到单一故障点的效率，这对于电子设备的生产和维护具有重要意义。通过减少故障定位的时间和成本，它能帮助制造商更快地找出问题，提升产品质量和生产率。 这篇学术论文提供了一种创新的故障定位策略，结合了故障模拟和测试模式的优化策略，对于提高电子电路测试领域的故障诊断精度和效率具有显著的理论价值和实践意义。