VLSI测试方法学：路径敏化法与可测性设计解析

"路径敏化法是VLSI测试中的一个重要技术，用于检测和诊断电路中的故障。在图3.9所示的示例中，它展示了如何通过特定步骤来敏化和确认故障的传播路径。这种方法涉及到故障的激活、路径的选择、线赋值以及一致性检查。" 路径敏化法是一种在电路测试中寻找故障传播路径的技术，主要用于超大规模集成电路（VLSI）的测试和诊断。在描述中提到的图3.9中，故障4 1f的传播路径被定义为54 6f f f Z→ → →。这个过程的关键在于确定敏化路径，即故障能影响到原始输出的路径。如果在敏化路径上激活故障后，观察到的输出值与正常状态不同，那么敏化是成功的。 3. 确认步骤涉及根据敏化路径上元件的逻辑关系来设置其他线的值。对于与门（与非门），非敏化路径上的输入通常设为1；对于或门（或非门），则设为0。以图3.9为例，要将故障4 1f敏化到f5，需将f1设为1，f3设为3。 4. 蕴涵阶段是在确认了敏化路径上的值后，通过回溯来确定非敏化路径上其他门的输入或输出值。这个过程分为向前蕴涵（根据输入确定输出）和向后蕴涵（根据输出确定输入）。 5. 一致性检查确保在敏化、确认和蕴涵过程中，所赋的逻辑值不会产生矛盾。如果发现冲突，需要重新处理，以保证测试的准确性。 整个测试生成过程包括激活故障、沿着路径敏化、确认路径上其他线的值、蕴涵非路径上门的值，最后得到原始输入的测试图形。这一系列步骤在VLSI测试方法学中至关重要，特别是对于提高测试生成算法的效率。 在VLSI测试方法学和可测性设计的领域，这本书详细介绍了电路测试的基础概念、数字电路的模拟方法、组合电路和时序电路的测试生成策略，以及诸如IDDQ测试、随机和伪随机测试等高级主题。这些内容不仅适用于集成电路设计、制造、测试和应用的专业人员，也是高等院校相关专业学生和研究生的重要教材。 测试方法学和可测性设计的目的是为了确保电路的可靠性，并在出现故障时能够有效地定位问题，从而提高整体的设计质量和效率。随着VLSI技术的发展，测试和可测性设计的重要性日益凸显，成为保障集成电路性能和功能完整性的关键环节。