ESD模型详解:HBM与MM测试方法及应用标准

需积分: 40 13 下载量 153 浏览量 更新于2024-08-24 收藏 9.52MB PPT 举报
本文主要探讨了ESD(Electrostatic Discharge,静电放电)模型以及相关的测试方法,针对集成电路设计和制造中的静电防护至关重要。ESD模型根据放电来源和方式的不同,可以分为五类:人体放电模式(HBM)、机器放电模式(MM)、组件充电模式(CDM)、电场感应模式(FIM),以及针对系统级产品和研究设计的特定模型(IEC电子枪空气放电模式和TLP模型)。 1. **HBM(人体放电模型)**:这是最常见的ESD类型,当人体携带静电接触集成电路时,短时间内会产生高达1.33安培的尖峰电流,可能对IC造成严重损害。MIL-STD-883C标准中的3015.7方法提供了等效电路图,人体等效电容设为100皮法(pF),等效放电电阻为1.5千欧姆(kΩ)。 2. **MM(机器放电模型)**:机器如机械臂积累静电后释放,由于机器通常是金属材质,具有零电阻,电容约为200pF,导致放电过程极快,瞬间电流可能达到数十安培。EIA/JEDEC的EIA/JESD22-A114-A标准定义了对MM模式的测试规范。 3. **其他模型**:CDM(Charged-DeviceModel)涉及已充电的组件放电,FIM(Field-InducedModel)则考虑电场对集成电路的影响。IEC电子枪空气放电模式适用于系统测试,TLP模型则是用于研究设计阶段的测试工具。 4. **测试方法**:文章还提及了TLP测试和拴锁测试,以及I-V(电流-电压)测试,这些都是验证集成电路抗ESD性能的重要手段。标准介绍部分可能涵盖了这些测试方法的详细步骤、参数设定以及适用范围。 通过理解和掌握这些ESD模型和测试方法,工程师们能够更好地设计和优化电子产品,确保在生产过程中避免因静电放电造成的器件损坏,提高产品质量和可靠性。同时,这些知识对于集成电路制造商、设备供应商和测试实验室都是必不可少的。