半导体测试入门指南：基础知识与步骤详解

半导体测试概论是一本由台湾作者编写的关于集成电路(IC)测试的专业书籍。本书详细介绍了半导体测试的基础概念和各种测试方法，旨在帮助读者深入了解这个领域。以下章节概述了书中的关键知识点： 1. 第一章：电子学基本概念 - 本章首先复习了一些基本的电子学概念，如电压、电流和电阻。作者强调了这些术语的重要性，并通过公式V = E/Q (电位差与电能的关系) 和 I = Q/T (电流定义)来解释它们。此外，还讨论了电阻如何影响电流流动，以及温度对电阻值的影响，包括热敏电阻的特性。 2. 第二章至第十五章：具体测试技术 - 从开路与短路测试、集成电路规格表的解读，到直流参数测试、功能参数测试、交流参数测试，每一章都深入讲解了针对不同电路特性和性能指标的测试方法。例如，第八章涉及电路特性分析，第九章介绍开发测试向量，第十章探讨测试程序开发时可能遇到的问题及其解决方案。 3. 第十一章至第十三章：测试流程与验证 - 包括测试程序开发步骤、排除问题的方法以及测试程序的验证和文档管理。这些章节对于确保测试的有效性和准确性至关重要。 4. 第十四章：锁定效应 - 这是测试过程中可能遇到的一个特殊现象，即当信号在电路中循环反馈时可能导致的结果，需要特别关注和处理。 5. 第十五章：扫描测试原理 - 扫描测试是一种常用的技术，用于检测大规模集成电路中的故障，它涉及到测试信号的精确控制和电路行为的细致分析。 通过阅读这本书，读者可以建立起扎实的半导体测试基础，了解测试策略，掌握实际操作技巧，以及如何解决测试过程中可能遇到的问题。这对于从事半导体设计、制造和质量控制的专业人士来说，是一本非常有价值的参考书。