Rockchip平台USB信号完整性测试指南

"Rockchip-Developer-Guide-USB-SQ-Test-CN-V1.5.pdf" 本文档详细阐述了在Rockchip平台上进行USB 2.0/3.0信号完整性测试的方法，旨在帮助硬件工程师、软件工程师和技术支持工程师进行有效的USB接口测试。文档覆盖了从高速、全速到低速的不同模式，特别强调了常用的高speed信号质量测试。 对于USB 2.0信号完整性测试，主要包括以下几个方面： 1. 高速Signal Quality测试：检查数据传输的信号质量，确保在高速模式下数据的正确传输。 2. Packet Parameters：验证数据包的参数是否符合规范，如包头、数据字段和包尾的正确性。 3. CHIRP Timing：测试设备在高速切换时的时序特性。 4. Suspend/Resume/Reset Timing：检查设备在挂起、恢复和复位过程中的时序行为。 5. Test J/K、SE0_NAK：评估USB通信中的错误检测和恢复机制。 6. Receiver Sensitivity：测试接收器对弱信号的敏感度，确保在各种条件下仍能正常工作。 USB 3.0信号完整性测试则分为Tx compliance test (发射端合规测试)和Rx compliance test (接收端合规测试)： - Tx compliance test：提供了详细的测试步骤，以确保USB 3.0设备的发射端符合USB 3.0标准，包括眼图分析、抖动测试等。 - Rx compliance test：由于其复杂的测试环境和方法，文档未提供详细步骤，但给出了基本的测试原理，帮助理解接收端测试的重要性。 Rockchip的系统级芯片(SOCs)通常集成多个独立的USB控制器，每个控制器都有不同的测试命令和方法。因此，在进行USB信号完整性测试之前，必须确定测试接口对应的USB控制器，参考相应的芯片技术参考手册(TRM)获取详细信息。 该文档适用的示波器品牌包括Agilent、Tektronix和LeCroy，以及配合使用的USB测试夹具，确保了测试设备的广泛兼容性。 文档的修订记录显示，作者吴良峰自2017年12月起持续更新此文档，增加了新的测试命令，修正了测试方法，并改进了文档格式，确保内容与时俱进，适应不断发展的Rockchip平台和USB测试需求。 "Rockchip-Developer-Guide-USB-SQ-Test-CN-V1.5.pdf"为Rockchip平台上的USB测试提供了详尽的指导，对于理解和执行USB信号完整性测试至关重要，有助于确保产品的稳定性和兼容性。