0
10
20
30
40
50
60
70
80
Dip 20 Cu
Dip 24 Cu
QFP 100 Cu
QFP 120 A−42
QFP 132 A−42
QFP 132 C
QFP 160 A−42
QFP 208 Cu
QFP 208 + H.S.
QFP 240 Cu
PLCC 20 Cu
PLCC 28 Cu
PLCC 68 Cu
PLCC 84 Cu
SOJ LOC 32 A42
SOJ LOC 32 Cu
SOIC 8 Cu
Package Type
J/A (5C/W)
0
10
20
30
40
50
60
1s 2s2p % Shift
216
108
% Shift
www.ti.com.cn
Theta-ja (θ
ja
)
结至环境和
Theta-jma (θ
jma
)
结至流动空气
根据 θ
ja
并不是封装本身的特性,而是封装,PCB 和其它环境因素的特性这一事实,它最好用作不同公司的
封装散热性能的对照。 例如,如果相对于竞争对手所公布的 45°C/W 值,TI 针对一个封装公布了一个
40°C/W 的 θ
ja
值,那么 TI 部件在应用中有可能比竞争对手的部将多冷却 10%。
1.2
测测试试卡卡影影响响
最近,JEDEC 已经建立了一组标准用来测量并报告 IC 封装的散热性能。 这些标准全部属于 EIA/JESD 51
项下。 EIA/Semi 也具有一组与 JEDEC 版本完全不同的热标准。 由于 θ
ja
不是一个常量,所以在尝试一个比
较前,确定用来计算或测量 θ
ja
的标准就变得十分关键。
在 JEDEC 技术规范内,允许两个测试板类型。 一个 1s(单信号层)配置给出了一个针对适度板上组装、
多层系统级 PCB 应用的
典型
使用值。 一个 2s2p(双信号层、双隐蔽式电源层)配置给出了一个最佳情况
性能估算,假定采用了具有隐蔽式电源和接地层的稀疏板上组装、高走线密度板设计。图 1显示了对于 17
中不同封装类型,针对这两个电路板的 θ
ja
差异。 请注意,针对这些模型,所有材料和封装几何图形保持恒
定。
图图 1. 对对于于多多种种封封装装,,1s 与与 2s2p PCB 之之间间的的关关系系
如图所示,单单一个 1s 与 2s2p 测试卡结构间关系的函数即可产生最多 50% 的 θ
ja
变化。
1.3
芯芯片片尺尺寸寸影影响响
如果芯片或基板足够大的话,一个封装内的芯片或裸片基板都可发挥均热片的功能。 这个均热片有两重功
效。 首先,它将能量从芯片热点分散到封装表面上更广阔的面积上,从而增加对流能量损耗。 第二,它增
加了基板到引线指或封装焊球的热传输,然后将热量传导至 PCB。图 2显示了卷带式空间阵列芯片级封装
(CSP) 中芯片尺寸对 θ
ja
的影响。 如图所示,针对此封装的 θ
ja
随芯片尺寸变化了大约 8 倍。
如果计划缩小
芯片尺寸,那么很有必要重新测量或重新计算一个封装的
θ
ja
。
3
ZHCA543B–December 2003–Revised July 2012
半导体和集成电路
(IC)
封装热度量
SPRA953 — http://www-s.ti.com/sc/techlit/SPRA953
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