ARM嵌入式系统实验：外部存储器接口与调试

"外部存储器接口实验 - ARM嵌入式系统实验" 实验主要涉及的知识点集中在ARM嵌入式系统的外部存储器接口设计和调试上，具体包括以下内容： 1. **ARM Executable Image for lpc22xx工程模板**：这是一款基于ADS 1.2的开发环境，用于构建针对LPC22xx系列微处理器的项目。LPC22xx是NXP（前身为飞利浦）公司生产的一系列ARM7TDMI-S内核的微控制器，广泛应用于嵌入式系统。 2. **PINSEL2和BCFG1寄存器**：在LPC22xx系列微控制器中，PINSEL2是引脚选择寄存器，用于配置GPIO引脚的多功能性；BCFG1寄存器是Bank配置寄存器，其中的IDCY、WST1、WST2字段可能用于控制外部存储器访问的时序，例如等待状态的设置。 3. **外部存储器访问**：实验中涉及到的外部存储器是SST39VF160，这是一种串行闪存，用于存储程序代码或数据。实验要求在启动时配置这些寄存器以正确地访问和控制外部Flash。 4. **DebugInExram生成目标**：这是ADS 1.2的一种调试模式，使得程序可以在片外的RAM中运行，方便对程序进行调试。 5. **JTAG仿真调试**：通过AXD工具进行JTAG（Joint Test Action Group）调试，这是一种常用的嵌入式系统调试接口，可以用来下载程序、单步执行、设置断点和查看寄存器状态等。 6. **存储器观察窗口**：在AXD调试器中，使用Memory窗口可以观察特定地址的内存内容，这对于验证程序对片外Flash的操作至关重要。 7. **实验步骤**：实验步骤包括创建工程、编写源文件、配置寄存器、编译连接、设置硬件跳线、启动仿真调试、监控Flash数据和错误变量，以及通过蜂鸣器的反馈来确认操作结果。 8. **EasyARM2200开发板**：这是一个用于ARM嵌入式系统开发的平台，支持多种兼容芯片，并包含了丰富的接口和外围设备，如SRAM、Flash、以太网、USB、CAN、LCD等，便于进行各种实验和应用开发。 9. **实验内容**：除了上述的外部存储器接口实验，EasyARM2200开发板还支持GPIO控制、中断、I2C、SPI、PWM、DAC、实时时钟、WDT、ADC等一系列嵌入式系统中常见的功能实验，这些都是嵌入式系统设计和应用开发的基础。 10. **硬件原理**：实验还涵盖了开发板上的关键硬件电路，如电源电路、复位电路、时钟电路、JTAG接口、串口、键盘LED、SPI、PWM/DAC、ADC、CAN、以太网、LCD和存储器接口等，这些都为理解和调试嵌入式系统提供了基础。