提升遥测信号处理器测试覆盖率的BIT方法

"本文主要探讨了一种提高遥测信号处理器测试性的方法，通过引入Built-In Test (BIT) 技术来提升测试覆盖率。文中详细介绍了信号处理器的基本结构、当前测试的现状及其存在的问题，以及BIT设计的具体分析。" 遥测信号处理器在现代科技中扮演着至关重要的角色，尤其在航空航天、通信等领域，它负责处理来自远程设备的信号，确保数据的准确传输和解析。然而，随着技术的发展，处理器的复杂度增加，测试的难度也随之提升。为了改善这一情况，文章提出了增加BIT（内置自测试）的方法。 BIT是一种在系统内部集成的自我检测机制，旨在提高产品的可测试性和可靠性。通过对产品设计进行特定优化，使其具备自我诊断和故障定位的能力，BIT可以显著提高测试覆盖率，从而在早期发现和隔离潜在的硬件或软件问题。 在当前的信号处理器测试中，虽然在实验室环境中可以通过各种仪器设备进行全面测试，实现几乎100%的测试覆盖率和故障隔离率，但在实际运行中，如挂机自检时，测试覆盖率会显著下降，大约只能达到24%，并且在某些故障情况下无法进行有效的故障隔离。 针对这一问题，文章深入分析了信号处理器的结构，尤其是模拟信号采集通路、RS422总线接口、A/D转换器、FPGA内部逻辑模块等多个关键组件的测试需求。BIT设计的目标是覆盖这些关键节点，确保每个部分都能在运行中进行自我验证。 例如，对于单一模拟信号采集通路的BIT设计，可能包括对输入信号调理电路的健康检查、A/D转换器的精度验证、以及数据处理和传输环节的完整性检验。通过这些内置的测试序列，可以在系统运行时实时监测各个模块的状态，一旦发现问题，可以迅速定位故障源，提高故障隔离率。 此外，BIT设计还可能涉及FPGA内部的BIST（Built-In Self-Test）逻辑，用于测试其内部的逻辑块、互连线和配置存储器。这不仅可以验证FPGA的功能，还可以在早期发现潜在的制造缺陷或使用中的老化问题。 总结来说，通过BIT技术，遥测信号处理器的可测试性得以显著提升，增强了系统的稳定性和可靠性。这一方法对于降低产品的生命周期成本，提高整体性能具有显著效果。未来，随着技术的进一步发展，BIT和其他可测试性设计策略将在更广泛的领域得到应用，以满足日益复杂的系统测试需求。