TI UCC21520-Q1：汽车级隔离双通道驱动器，满足AEC-Q100标准
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更新于2024-06-29
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收藏 2.42MB PDF 举报 TI-UCC21520-Q1是一款专为汽车应用设计的高性能隔离式双通道栅极驱动器，它具备严格的电气安全性和可靠性。这款产品主要针对AEC-Q100标准，确保在严苛的汽车环境中的稳定性能，包括：
1. **AEC-Q100兼容性**：器件满足AEC-Q100一级温度类别和电磁兼容性（EMC）要求，如HBMESD等级为H2，CMESD等级为C6，适合汽车电子系统的严苛要求。
2. **通用性**：UCC21520-Q1支持多种驱动配置，包括双路低侧、双路高侧或半桥结构，适应各种电路布局。
3. **工作范围**：它在-40℃到+125℃的宽温工作环境下运行，保证了长时间的可靠性。
4. **高速开关性能**：驱动器具有出色的开关速度，如19ns典型传播延迟、10ns最小脉冲宽度等，确保高效能量转换。
5. **电磁干扰抗扰性**：具有高共模瞬态抗扰度（CMTI）超过100V/ns，以及能承受高达12.8kV的浪涌抗扰度，保护系统免受电磁干扰。
6. **长期稳定性**：隔离栅寿命超过40年，保证长时间的使用寿命。
7. **电流处理能力**：能够提供4A的峰值拉电流和6A的峰值灌电流，支持高功率输出。
8. **输入兼容性**：TTL和CMOS输入设计，允许与多种控制器（数字和模拟）无缝集成，输入电压范围为3V至18V的VCCI。
9. **电源和可编程特性**：支持高达25V的VDD输出驱动电源，选项包括5V和8V的UVLO（欠电压锁定），同时具备可编程的重叠和死区时间控制功能，以优化系统设计灵活性。
10. **保护功能**：内置的UVLO（欠电压保护）有助于防止过低的电源输入对设备造成损害。
TI-UCC21520-Q1是汽车电子系统中的一款关键组件，其设计特点使得它能够在严酷的环境中提供高效率、高可靠性和灵活的驱动控制。对于任何涉及汽车电子系统设计的工程师来说，理解和利用这些特性至关重要。在实际应用时，务必参考英文版数据手册SLUSCQ2获取最准确的技术细节。
9
UCC21520-Q1
UCC21520A-Q1
www.ti.com.cn
ZHCSGY8B –OCTOBER 2017–REVISED JULY 2018
版权 © 2017–2018, Texas Instruments Incorporated
Electrical Characteristics (continued)
V
VCCI
= 3.3 V or 5 V, 0.1-µF capacitor from VCCI to GND, V
VDDA
= V
VDDB
= 12 V, 1-µF capacitor from VDDA and VDDB to
VSSA and VSSB, T
A
= –40°C to +125°C, (unless otherwise noted)
PARAMETER TEST CONDITIONS MIN TYP MAX UNIT
OUTPUT
I
OA+
, I
OB+
Peak output source current
C
VDD
= 10 µF, C
LOAD
= 0.18 µF, f
= 1 kHz, bench measurement
4 A
I
OA-
, I
OB-
Peak output sink current
C
VDD
= 10 µF, C
LOAD
= 0.18 µF, f
= 1 kHz, bench measurement
6 A
R
OHA
, R
OHB
Output resistance at high state
I
OUT
= –10 mA, T
A
= 25°C, R
OHA
,
R
OHB
do not represent drive pull-
up performance. See t
RISE
in
Switching Characteristics and
Output Stage for details.
5 Ω
R
OLA
, R
OLB
Output resistance at low state I
OUT
= 10 mA, T
A
= 25°C 0.55 Ω
V
OHA
, V
OHB
Output voltage at high state
V
VDDA
, V
VDDB
= 12 V, I
OUT
= –10
mA, T
A
= 25°C
11.95 V
V
OLA
, V
OLB
Output voltage at low state
V
VDDA
, V
VDDB
= 12 V, I
OUT
= 10
mA, T
A
= 25°C
5.5 mV
DEADTIME AND OVERLAP PROGRAMMING
Dead time
Pull DT pin to VCCI Overlap determined by INA INB -
DT pin is left open, min spec
characterized only, tested for
outliers
0 8 15 ns
R
DT
= 20 kΩ 160 200 240 ns
6.10 Switching Characteristics
V
VCCI
= 3.3 V or 5 V, 0.1-µF capacitor from VCCI to GND, V
VDDA
= V
VDDB
= 12 V, 1-µF capacitor from VDDA and VDDB to
VSSA and VSSB, T
A
= –40°C to +125°C, (unless otherwise noted).
PARAMETER TEST CONDITIONS MIN TYP MAX UNIT
t
RISE
Output rise time, 20% to 80%
measured points
C
OUT
= 1.8 nF
6 16 ns
t
FALL
Output fall time, 90% to 10%
measured points
C
OUT
= 1.8 nF
7 12 ns
t
PWmin
Minimum pulse width Output off for less than minimum,
C
OUT
= 0 pF
20 ns
t
PDHL
Propagation delay from INx to OUTx
falling edges
19 30 ns
t
PDLH
Propagation delay from INx to OUTx
rising edges
19 30 ns
t
PWD
Pulse width distortion |t
PDLH
– t
PDHL
| 6 ns
t
DM
Propagation delays matching
between VOUTA, VOUTB
f = 100 kHz
5 ns
|CM
H
|
High-level common-mode transient
immunity
INA and INB both are tied to VCCI;
V
CM
=1500V; (See CMTI Testing)
100
V/ns
|CM
L
|
Low-level common-mode transient
immunity
INA and INB both are tied to GND;
V
CM
=1500V; (See CMTI Testing)
100
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