VLSI布局算法：对齐与性能约束优化

“面向对齐和性能约束的VLSI布局算法研究，李耀辉，马昱春，徐宁，探讨了在超大规模集成电路（VLSI）设计中，如何处理模块布局的位置约束，特别是对齐约束和性能约束。文中提出了一种非法约束自动修复策略，以更高效地保证对齐约束的满足，并且发展了一种新的基于区域性能约束的布局算法，能够在优化芯片面积的同时解决多样的区域约束问题。” 本文深入研究了VLSI设计中的关键问题——布局规划，尤其是在现代集成电路设计中遇到的对齐和性能限制。随着VLSI技术的不断进步，设计者对芯片性能和特定需求的提升使得模块布局的约束问题变得日益复杂。作者李耀辉、马昱春和徐宁针对这一挑战，提出了一种创新的方法来处理对齐约束。 首先，他们设计了一种非法约束自动修复策略。在布局过程中，由于各种原因可能导致某些模块无法满足预设的对齐约束，这种策略能够快速有效地检测并修复这些不合规的情况，使得布局过程更加顺畅，同时减少了因约束冲突导致的优化难度。 其次，他们进一步将研究扩展到考虑区域性能约束的布局算法。在实际应用中，不同的电路区域可能有特定的性能要求，例如时钟树的平衡、功耗分布等。提出的算法能够兼顾这些性能指标，优化芯片的整体性能，而不仅仅是面积最小化。实验结果证实，该算法在保持芯片面积优化的同时，能有效地处理各种复杂的区域约束，增加了布局的多样性和实用性。 此外，该研究还强调了布局的面积利用率，这是VLSI设计中的一项重要指标。高效的布局算法应能在满足性能和约束的前提下，最大化地利用芯片空间，以降低制造成本并提高集成度。 这篇论文提出的对齐约束处理策略和区域性能约束布局算法，对于集成电路自动化设计的实践和研究具有重要意义。它们不仅提高了布局的灵活性和适应性，还确保了设计的性能和约束满足，对于推动VLSI设计技术的发展具有积极的贡献。关键词涉及对齐约束、性能约束、面积利用率、模拟退火算法以及集成电路布局，这些都是VLSI设计领域的核心概念。