ADI多通道SMU：集成与创新的测试解决方案

ADI多通道SMU，即Analog Devices (ADI)的Source Measurement Unit，是一种高度集成的测试测量解决方案，专为电子器件测试、电池模拟、分立器件分析等领域设计。其核心特点是采用AD5522主控芯片，该芯片集成了全象限控制环路，包括Force Voltage/Measure&Clamp Current和Force Current/Measure&Clamp Voltage功能，使得单个设备就能实现多种信号的输出和测量，简化了以前需要多仪器配合的工作流程。 设计上，ADI SMU着重解决了一些关键挑战。首先，全象限控制环路设计的难点在于构建一个既能输出又能精确测量的系统，尤其是当涉及到电压和电流的双向操作时。通过集成AD5522，它内置了多种range的shunt电阻，以及CCOMP和CFF补偿引脚，可以灵活应对不同负载参数，确保了对复杂器件的精确测试。 其次，为了兼顾高通道密度和低输出噪声，方案采用了开关级与线性级相结合的技术。AD公司的SilentSwitch集成开关转换器LT8646S和LT8648S被用于开关级，它们提供了远低于常规DC/DC转换器的低噪声性能，同时线性级则确保了低噪声输出，适合于要求严格的测试环境，如桌面仪器和激光器件测试。 最后，输出级动态功耗调整是该设计的一大亮点。通过独特的供电技术，输出级能根据实际需求动态调整，从而扩展了I、III象限的输入和输出能力，接近供电电源的最大可能输出，提高了系统的灵活性和功率效率。这种设计特别适用于那些对功率范围有较高要求的应用场景，如FCT（Failure Current Test）测试。 ADI的SMU解决方案凭借其集成度高、控制能力强、噪声低以及功耗优化等特点，成为现代测试测量工具中的一个重要选项，广泛应用于ATE（Automated Test Equipment）、源表、电池模拟器等多个电子设备的测试领域。