VNIR波段高光谱成像仪CCD探测器选型策略

"航空推扫高光谱成像仪CCD探测器选型研究" 这篇研究主要探讨了在可见近红外（VNIR）波段的高光谱成像系统中，如何选择合适的电荷耦合器件（CCD）探测器以优化系统性能。文章指出，信噪比（SNR）和焦面稳定性是衡量高光谱成像系统性能的关键因素，而CCD探测器的选型对于提升这两个指标至关重要。 作者提出了一种快速选择CCD的方法，该方法基于CCD的像元规模、帧频和像元尺寸这三个关键参数。通过建立VNIR波段的信噪比模型和焦深模型，他们能够更科学地进行CCD选型。在工程应用系统的分析基础上，他们详细阐述了选型过程，特别是像元尺寸对信噪比的影响。通过计算和分析，他们证明了所建立的模型和选型策略的合理性和准确性。 研究结果显示，采用这种方法能有效地选择出符合高光谱成像仪要求的CCD，确保系统的信噪比和焦面稳定性达到预期标准。这一研究对于提升航空推扫高光谱成像仪的整体性能具有重要意义，为未来相关领域的设备设计提供了理论支持和实践指导。 关键词涉及的方面包括成像系统、高光谱成像、可见近红外光谱、面阵电荷耦合器件、信噪比以及像元尺寸。这些关键词揭示了研究的核心内容和技术焦点，即在特定光谱范围内，如何通过优化CCD的参数来改善成像系统的性能。