微波测试夹具校准：对称设备的三次测量法

"通过三项测量校准对称设备的任意测试夹具" 在微波测试领域，正确地校准测试夹具对于确保精确测量被测设备（DUT）的性能至关重要。本文主要探讨了一种针对对称设备的新型校准方法，通过三次测量来校准任意测试夹具，这种方法比传统的透过-反射-线（TRL）校准方法更为高效。作者Runbo Ma、Guorui Han、Xinwei Chen和Wenmei Zhang提出了一个基于级联网络关系的通用解决方案。 一、方法概述 文章首先从级联网络理论出发，推导出校准对称设备测试夹具的一般方法。对称设备是指那些在结构上具有对称性的电子元件，如平衡电路或双端口器件。传统上，TRL校准需要多次测量来确定测试夹具的特性，而新方法只需要三次测量：一次直通线（Thru）、一次直线（Line）和一次对称设备（Symmetric Device）。这种简化过程减少了测量时间和复杂性。 二、散射参数与嵌入设备 散射参数（S参数）是描述微波网络传输和反射特性的关键参数，它们表示网络输入和输出功率之间的关系。在校准过程中，通过测量直通线、直线和对称设备，可以确定测试夹具以及嵌入其中的对称设备的S参数。这些测量结果有助于消除测试夹具对DUT测量的影响，从而得到更准确的DUT性能数据。 三、仿真与实验验证 为了验证所提出的校准方法的有效性，作者进行了仿真和实际测量。通过比较仿真结果与测量数据，分析表明该方法在确定对称DUT的校准S参数方面是可靠的。这证明了即使在复杂的测试环境中，该方法也能提供精确的校准结果。 四、应用范围 这项工作对于那些需要快速、精确校准测试夹具以测量对称设备的应用场景特别有价值，例如在微波通信、雷达系统、射频组件测试等领域。由于减少了测量次数，该方法降低了校准成本，提高了测试效率，有利于大规模生产和研发过程。 五、关键词 文章的关键术语包括“校准”、“去嵌入”、“微波”、“散射参数”和“测试夹具”。这些关键词突出了研究的核心内容，即在微波频段内，如何通过简便的校准流程，有效地处理对称设备的测试问题。 通过三项测量校准对称设备的任意测试夹具是一种创新的技术，它简化了传统校准过程，提高了测试精度和效率。这种方法对于微波工程和测量领域具有重要的实践意义。