中兴通讯电路设计规范-可测试性与元数据

"电路设计规范-中兴通讯股份有限公司" 这篇文档是中兴通讯股份有限公司CDMA事业部设计开发部制定的电路设计规范，主要针对原理图设计，旨在提高设计规范化和产品质量。规范适用于Cadence平台的ConceptHDL原理图工具，但也包含通用的设计原则。 在电路可测试性方面，虽然描述中没有直接提供详细内容，但在电路设计规范中，可测试性是一个重要的考虑因素。可测试性设计(DFT, Design for Testability)确保电路在制造和维护阶段能够容易地进行检测和故障排除。这通常包括添加测试点、边界扫描(Boundary-Scan)、自动测试设备(ATE)兼容接口等特性。设计者需要考虑如何在不影响电路性能的前提下，增强电路的测试能力，以便于制造过程中的质量控制和后期的维修。 规范分为三个等级的检查条目： 1. **规定**：这是设计中必须遵守的规定，任何违反这些规定的做法都需要经过评审和说明，以确保其合理性。 2. **推荐**：推荐条目是根据一般设计经验提出的建议，虽然不是强制性的，但设计师应尽可能遵循，以优化设计。 3. **提示**：提示条目涉及一些可能难以通过原理图检查或难以得出明确结论的问题，提醒设计师注意潜在问题，以防止错误发生。 文档强调，尽管规范覆盖了常见问题，但开发和评审过程中可能会遇到规范未涵盖的情况，需要开发人员和评审人员根据自身经验和专业知识来处理。因此，了解并遵循《规范》对于硬件开发工程师至关重要，它不仅提供了一套标准操作流程，还帮助预防设计中的潜在问题，提升整体设计效率和产品可靠性。 此外，该文档还提到了版本管理，例如从1.0到2.0的版本变更，说明了文档的持续更新和完善过程，确保了设计规范的时效性和适应性。这份电路设计规范为中兴通讯的硬件设计团队提供了一个清晰的指导框架，有助于提升整个设计团队的工作质量和效率。