球面光学元件自动检测：环形扫描与参数优化

本文档探讨了球面光学元件表面疵病的自动检测技术，针对球面光学元件的特殊性质和自动检测的需求，提出了一种环形扫描的检测方法。作者首先设计了详细的扫描方案，并构建了一个实验平台来实现这一检测过程。他们着重研究了扫描速度对图像拼接效果的影响，发现当扫描速度设定为40 mm/s时，对于口径为20 mm、曲率半径为50 mm的透镜，能确保图像拼接的稳定性和准确性。此外，他们还分析了所选光源的数量对成像质量的影响，认为使用三个LED光源能够提供足够的照明，从而保证了检测结果的清晰度。 实验证明，这样的设置能够满足自动检测球面光学元件表面疵病的要求。为了适应不同规格的元件，作者还开发了一个图形用户界面（GUI）参数界面，通过该界面，可以方便地调整扫描速度和光源配置，以适应不同曲率半径和口径的光学元件，提高了检测的灵活性和通用性。 论文的作者张彬和刘缠牢是西安工业大学光电工程学院的研究人员，他们的工作主要集中在光学元件表面疵病检测技术的创新上。他们的研究成果对于提高光学元件制造过程中的自动化检测水平，降低人工成本，保证产品质量具有重要意义。 论文的关键词包括“球面光学元件”、“自动检测”和“环形扫描”，反映了文章的核心研究内容。中图分类号和文献标识码也提供了检索和引用该论文的标准化依据。总体来说，这篇文章是一项实用且具有理论价值的技术研究，对于光学检测领域的工程师和技术人员具有很高的参考价值。