TD-LTE Ir接口链式组网测试系统设计详解

本篇论文《Ir接口链式组网测试系统设计与实现》由姜冰莹、高锦春、张洪光和王艳秋四位作者共同完成，他们分别来自北京邮电大学电子工程学院。作者们在论文中针对TD-LTE（第四代移动通信技术）的Ir接口进行了深入研究。Ir接口是LTE网络中用于BBU（基带处理单元）与RRU（远端射频单元）之间的关键连接，它负责传输和处理高层数据，如控制信息和用户数据。 文章的核心内容是设计并实现了一套基于模拟设备的Ir接口链式组网测试系统。这套系统的主要目标是通过模拟BBU设备和两个模拟RRU设备的链式连接，构建一个可以统一管理数据流的测试环境。系统重点实现了TD-LTEIr接口协议定义的BBU与RRU之间的交互流程，包括数据的传输和处理，以及链路状态和参数的控制。 设计的关键在于采用了可视化管理方法，通过专门设计的测试界面，实现了对模拟BBU设备对模拟RRU设备的操作，如配置和查询功能。这样不仅简化了测试过程，提高了效率，而且有助于更好地理解和优化Ir接口的性能。 此外，该论文还被归类为TN929.53类别，表明其专注于通信技术领域，具体是Ir接口的研究和应用。关键词的选择包括TD-LTE、Ir接口和链式组网，强调了论文的主要研究内容和技术焦点。 这篇论文不仅详细介绍了Ir接口在TD-LTE网络中的作用，还展示了如何通过模拟设备构建一个实用且高效的测试系统，对于理解Ir接口在实际通信网络中的应用以及测试方法具有重要的参考价值。