超低相位噪声DDS应用：DAC相位噪声测量技术

"该文档是关于改进DAC(数模转换器)相位噪声测量技术的文章，旨在支持超低相位噪声的直接数字频率合成器(DDS)应用，特别是在雷达等高要求的无线电系统中。文章指出，相位噪声是衡量系统性能的关键指标，尤其是在雷达系统中，需要关注接近载波频率的频偏位置的相位噪声。" 在雷达系统的设计中，相位噪声起着至关重要的作用，因为它直接影响到杂波衰减能力。所有无线电系统都需要关注相位噪声，但雷达系统对此有特别高的要求。设计师通常会选择超低相位噪声的振荡器，并努力减少信号链中各个组件对振荡器相位噪声的负面影响。在这样的背景下，高速DAC因其在频率生成方面的优势而被广泛应用，但也对其相位噪声性能提出了挑战。 文章中提到了绝对相位噪声和残余相位噪声的概念。绝对相位噪声是指系统中测量到的总体相位噪声，而残余相位噪声则特指测试设备自身引入的相位噪声。理解这两者的差异对于正确评估系统中各组件的相位噪声贡献至关重要。 测试DAC相位噪声通常采用DDS测试设置，其中DAC作为DDS的一部分，通过数字正弦波模式与DAC交互。最常见的测试配置是将DDS的输出连接到相位噪声分析仪，但这种配置无法单独分离出振荡器的相位噪声贡献。文章中展示了如何通过调整电源稳压器的选择和测试设置，实现了AD9164 DAC在10kHz频偏处超过10dB的相位噪声改善。 相位噪声是衡量周期信号相位随机变化的度量，通常通过相位变化的功率谱密度来计算，并以dBc/Hz表示。文章提供了改进的测量方法，这有助于优化超低相位噪声DDS的应用，从而提升雷达和其他高性能无线电系统的性能。 这篇文档深入探讨了相位噪声测量技术的改进，特别是在使用高速DAC的场合，这对于实现雷达系统及其他对相位噪声敏感的应用具有重要意义。通过理解并优化这些测量方法，设计者可以更准确地评估和提升系统的整体性能。