硬件与嵌入式产品测试设计：系统验证与集成测试手册

"该资源是‘研发到试制的(硬件和嵌入式)产品测试设计’的最新更新版学员手册，由主讲人何重军老师提供，旨在支持个人学习，已备份到CSDN。它涵盖了系统级别的测试、验证和设计验证等多个方面，并包含了一系列专业术语和缩略语，如SCT、SDV、SE等，同时涉及到嵌入式系统和测试工程的多个关键概念和技术，如ATPG、ATE、BIST等。" 在硬件和嵌入式产品的研发过程中，测试设计是一个至关重要的环节，确保产品的功能正确性和可靠性。本手册首先定义了一系列与产品测试相关的术语，帮助学习者理解和应用这些专业词汇。例如，SCT（System Certification Test）是指系统认证测试，用于验证整个系统的功能是否符合规范；SDV（System Design Verification）系统设计验证则是为了确保设计满足预期需求；而SE（System Engineer）系统工程师负责协调和实施这些验证过程。 在测试过程中，不同的测试阶段有不同的目标。SIT（System Integration Test）系统集成测试关注于整合各个模块后的整体性能；SVT（System Verification Test）系统验证测试则对系统的功能和性能进行全面检查，确保它们满足设计规范。此外，文档中还提到了技术评审（TR）的重要性，这是保证产品质量和进度的关键步骤。 手册也提及了自动测试的相关技术，如ATPG（Automatic Test Pattern Generation）自动测试向量生成，它能自动生成测试用例，提高测试效率；ATE（Automated Test Equipment）自动测试设备则用于自动执行测试，提升测试的准确性和一致性。BIST（Built-In Self Test）内建自测试是嵌入式系统中常见的测试策略，能在系统运行时进行自我检测。 硬件描述语言（HDL）如Verilog和VHDL，是硬件设计的基础，而DFT（Design For Testability）可测试性设计则是为了使设计更容易被测试。例如，DRC（Design Rule Checking）设计规则检查确保设计符合制造工艺的要求，而LSSD（Level-Sensitive Scan Design）电平敏感扫描设计则提高了测试覆盖率。 此外，手册还涵盖了边界扫描技术，如BSC（Boundary Scan Cell）、BSDC（Boundary Scan Design Compiler），以及JTAG（Joint Test Action Group）协议，这些都是进行芯片或电路环境测试（CUT：Chip/Circuit Under Test）的重要工具。测试编译程序（如TC：Test Compiler）则用于将测试向量转换为实际的测试程序，以应用于ATE上。 这份手册是深入理解硬件和嵌入式系统测试设计的宝贵资料，它全面覆盖了从系统层面到芯片层面的测试策略和技术，对于研发人员和学习者来说具有很高的参考价值。通过学习这些知识，可以提升产品开发的质量控制和问题定位能力，从而加速产品的试制进程。