低功耗单双跳变确定性BIST方案：高效节能与高覆盖率

本文介绍了一种创新的低功耗确定性自测方案，针对电子设备中的故障检测问题，特别是在追求高效率和节能的前提下。该方案采用了单跳变测试技术和2-bit扭环计数器作为核心组件。与传统的确定性测试方法不同，它并不直接存储大量的确定性种子，而是通过一个只读存储器（ROM）来存储控制信号，并通过单双跳变机制动态生成确定性测试向量。这种方法的优势在于控制信号的长度仅为确定性种子的一半，从而显著地降低了功耗并节省了存储空间。 单双跳变的机制使得测试过程更为灵活，可以根据不同的测试需求进行调整。为了适应这一特性，研究者还设计了一套测试向量压缩算法，能够有效地减少测试数据的体积。此外，文中提及了三种x指定算法，进一步提高了测试的针对性和效率。这些算法的具体细节并未在摘要中详述，但可以推测它们可能是针对特定故障模式或电路结构优化的。 通过实验验证，这种新型的低功耗确定性BIST（ Built-in Self-Test）方案带来了明显的性能提升。平均功耗分别降低了42.36%，32.32%，和38.94%，这意味着在保持高故障覆盖率的同时，系统运行所需的能量消耗大幅减少。同时，测试向量的长度也有了显著缩减，分别是77.6%，86.1%，和84.3%，这意味着更快的测试速度。测试数据的压缩率分别为79.4%，65.2%，和68.1%，进一步减轻了存储和传输数据的压力。 这种单双跳变的低功耗确定性BIST方案为现代电子设备的高效能、低功耗自检提供了一种创新且实用的解决方案，对于提高产品可靠性、降低能耗以及优化系统设计具有重要的实际意义。未来的研究可能会进一步优化算法，探索更高级的自测策略以满足不断增长的电子产品复杂性和对可靠性的更高要求。