TI-DIN VDE V 0884-11：数字隔离器的新标准与影响

DIN VDE V 0884-11:2017-01标准的引入对数字隔离器产业具有重要意义，尤其是在2020年以前，原有的V0884-10:2006-12标准不再适用于评估数字隔离器的电磁兼容性和高压性能。这个转变源于VDE于2017年发布的新标准，为集成电路（IC）制造商设定了新的要求，要求他们在产品设计和制造过程中进行升级以符合这一更严格的规范，否则可能面临产品认证的撤销。 新标准的主要变化体现在以下几个关键方面： 1. 浪涌隔离电压测试：在DIN VDE V 0884-11中，增强了测试电压的要求，对于增强型产品，测试电压提升至1.6倍的VIOSM（浪涌隔离电压），而对于基本型，测试电压为1.3倍。在耐受冲击次数上，增强型产品要求50次单极浪涌冲击，而基本型则增加了双极测试，每个极性需承受25次冲击。 2. 工作/重复隔离电压确定：与旧标准不同，新标准不再依赖于绝缘寿命数据，而是采用了基于时间相关的电介质击穿（TDDB）绝缘寿命分析方法来评估设备的稳定性。 3. 局部放电测试电压（VPD(M)）：新标准要求增强型产品的VPD(M)是1.875倍的VIORM（工作/重复隔离电压），而基本型则为1.5倍VIORM，这旨在提高隔离器的电磁兼容性和抗干扰能力。 这些变化反映了对数字隔离器在高压环境中的安全性和可靠性有了更高的期望，尤其是在处理工业自动化、电力电子设备和通信系统等应用中，对信号传输的隔离和保护要求更为严格。因此，DIN VDE V 0884-11标准的实施推动了整个行业的技术创新和产品升级，确保了设备在高压环境下的稳定运行，同时也为制造商和用户提供了明确的质量和安全保证。