提高嵌入式系统EFT抗扰度：设计与测试策略

本文档主要关注电快速瞬变脉冲群（EFT）测试执行及其在嵌入式系统设计中的抗扰度策略。文章分为几个关键部分： 1. **实验室操作条件**: - 确保测试环境稳定，EUT（设备-under-test，即待测试设备）需在制造商规定的温度和湿度条件下进行测试，避免湿度过高导致内部冷凝问题。 - 电磁环境需保持无干扰，确保EUT正常运行。 2. **EFT波形验证**: - 使用示波器监测EFT波形，确保其符合IEC规范，并记录每个测试周期前的波形。 - 测试过程中涉及终端电阻的设置（50 Ω和1000 Ω），要求使用具有足够带宽（400 MHz）和精确测量能力的示波器，测量上升时间和脉冲持续时间等参数。 3. **测试执行**: - EUT在一般操作条件下进行测试，按照预设的测试计划进行，包括定义特定等级的EFT测试、受试端口、极性和电压应用次数。 - 测试时间至少1分钟，采用分段突发（每10秒）并间歇10秒的方式执行，可能涉及到辅助设备的使用。 4. **电快速瞬变脉冲群的影响与抗扰度**: - 文档详述了EFT对混合信号嵌入式控制器的不同故障模式，如复位、锁定、模拟和数字信号损坏、通信故障以及存储器破坏。 - 提供了针对系统、PCB布局、原理图设计和固件技术的抗扰度增强措施。 5. **IEC 61000-4-4 EFT测试要求**: - 描述了国际标准中关于EFT测试的等级划分、测试设备配置和程序要求，旨在确保产品符合安全和性能标准。 6. **设计注意事项和故障排除**: - 提供了系统级、电源供电、目标板设计和固件开发方面的指导，帮助设计者降低错误风险。 本文档不仅涵盖了EFT测试的具体步骤和技术要求，还着重于如何通过理解和应用抗扰度设计原则来保护嵌入式系统免受EFT冲击的影响。对于电子设计工程师来说，这是一个实用的工具，可以帮助他们在产品开发过程中确保系统抵抗电快速瞬变脉冲群带来的潜在问题。